«Оптический журнал», Том 69, № 2, Февраль, 2002

Идентификация побочных продуктов на поверхности пористых полупроводников GaAs и GaSb методом комбинационного рассеяния света.
Денисов В.Н., Маврин Б.Н., Караванский В.А.
c.3-

Экспериментальное исследование отражательной способности двумерных металлических поверхностей со случайным распределением шероховатости.
Наваретте А.Г, Чайкина Е.И., Лескова Т.А., Мендес Е.Р.
c.8-

Низкопороговое ограничение инфракрасного излучения в примесных полупроводниках.
Багров И.В., Жевлаков А.П., Сидоров А.И., Михеева О.П., Судариков В.В.
c.15-

Объективы-апохроматы без кристаллов.
Балаценко О.Н., Грамматин А.П.
c.21-

Многоспектральные просветляющие покрытия для ИК области.
Соколова Р.С., Пашкова Н.А.
c.25-

Расчет хода луча в градиентной аксиально-симметричной среде.
Верхотуров О.П., Хахалин А.А.
c.28-

Моментальная голография с распылением проявителя.
Петров В.Д.
c.32-

Опыт получения голограмм.
Петров В.Д.
c.36-

Применение оптических методов неразрушающего контроля для определения формы и деформации трехмерного объекта.
Сантойо Ф.М., Лопес К.П., Барриентос Б., Пашеко М.
c.39-

Криообъектив для инфракрасной астрономии.
Олейников Л.Ш., Соболев В.Г., Лебедева Г.И., Зверев В.А., Глазунов В.Д., Шоломицкий Г.Б., Маслов И.А.
c.44-

Тепловизионный метод дистанционного контроля транспортируемых грузов.
Белоусов Ю.И., Плетников М.П., Утенков А.Б., Смирнов А.Л.
c.50-

Программное обеспечение обработки интерферограмм для технологических целей.
Горшков В.А., Папаев А.Ю., Подобрянский А.В.
c.54-

Контактно-дистанционный метод контроля температуры расплава.
Старченко А.Н.
c.60-

Оптические характеристики отражательного жидкокристаллического дисплея типа «гость-хозяин» без поляроида с фазовым компенсатором и положительным контрастом изображения.
Симоненко Г.В., Чигринов В.Г., Квок Х.С.
c.65-

Измерение шероховатости прецизионных кварцевых подложек и лазерных зеркал методом дифференциального рассеяния.
Азарова В.В., Дмитриев В.Г., Лохов Ю.Н., Малицкий К.Н.
c.71-

Дифракционные методы контроля геометрических параметров и пространственного положения объектов.
Назаров В.Н., Линьков А.Е.
c.76-

Алексей Владимирович Сечкарев (к 75-летию со дня рождения)
c.82-