«Оптический журнал», Том 69, № 2, Февраль, 2002
Идентификация побочных продуктов на поверхности пористых полупроводников
GaAs и GaSb методом комбинационного рассеяния света. Экспериментальное исследование отражательной способности двумерных
металлических поверхностей со случайным распределением шероховатости.
Низкопороговое ограничение инфракрасного излучения в примесных полупроводниках.
Объективы-апохроматы без кристаллов. Многоспектральные просветляющие покрытия для ИК области. Расчет хода луча в градиентной аксиально-симметричной среде.
Моментальная голография с распылением проявителя. Опыт получения голограмм. Применение оптических методов неразрушающего контроля для определения
формы и деформации трехмерного объекта.
Криообъектив для инфракрасной астрономии. Тепловизионный метод дистанционного контроля транспортируемых грузов.
Программное обеспечение обработки интерферограмм для технологических
целей. Контактно-дистанционный метод контроля температуры расплава.
Оптические характеристики отражательного жидкокристаллического дисплея
типа «гость-хозяин» без поляроида с фазовым компенсатором
и положительным контрастом изображения. Измерение шероховатости прецизионных кварцевых подложек и лазерных
зеркал методом дифференциального рассеяния. Дифракционные методы контроля геометрических параметров и пространственного
положения объектов.
Алексей Владимирович Сечкарев (к 75-летию со дня рождения) |