Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru/87)
Аннотации (01.2011) : ЦИФРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ОТ НАНО ДО МАКРО С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИСТЕМЫ АНАЛИЗА ИЗОБРАЖЕНИЙ SIAMS

ЦИФРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ОТ НАНО ДО МАКРО С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИСТЕМЫ АНАЛИЗА ИЗОБРАЖЕНИЙ SIAMS

© 2011 г. Р. М. Кадушников, канд. физ.-мат. наук; В. М. Алиевский; С. В. Сомина; А. Л. Козерчук; М. С. Петров

 

ООО “СИАМС”, г. Екатеринбург

E-mail: info@siams.com

 

Рассмотрены ключевые особенности новых систем анализа изображений, основанных на технологии электронных таблиц для работы с изображениями. Показана возможность перевода систем анализа изображений из разряда систем для визуализации в разряд средств измерений. Приведены примеры работы анализатора изображений SIAMS для анализа изображений микроструктур в широком диапазоне масштабов, полученных различными методами цифровой микроскопии.

 

Ключевые слова: системы анализа изображений, цифровая обработка изображений, технология электронных таблиц, цифровая микроскопия.

 

Коды OCIS: 110.0110, 100.2000, 100.2960, 100.3010

УДК 004.932 + 681.723

 

Поступила в редакцию 08.06.2010

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел // Свидетельство об утверждении типа средств измерений RU.C.31.005.A № 36493. № 27438-09.

2. Кадушников Р.М., Алиевский В.М., Каменин И.Г., Гроховский В.И.  Автоматизированный  анализ изображений с использованием технологии электронных таблиц // Современные информационные технологии и ИТ-образование: Учебно-методич. пособие / Под  ред.  Сухомлина В.А. М.:  МАКС Пресс, 2005. C. 603–606.

3. Кадушников Р.М., Каменин И.Г., Вылегжанин А.Н. Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел SIAMS 700 // Cвидетельство о гос. регистрации программы для ЭВМ № 2008615275. 2008.

4. Сомина С.В., Кадушников Р.М., Гроховский В.И., Каменин И.Г., Алиевский В.М., Михайлович А.П., Антонов И.В. Автоматизированные методы анализа зерен с двойниками в суперсплавах // Тез. докл. XVIII Уральской школы металловедов-термистов. Тольятти, 2006. 222 с.

5. Алиевский В.М., Каменин И.Г., Гайдуков В.В., Кадушников Р.М., Гроховский В.И., Сомина С.В. Методика построения автоматизированных систем анализа структуры высоколегированных сталей // Тез. докл. XVIII Уральской школы металловедов-термистов. Тольятти, 2006. 223 с.

6. Макавецкас А.Р., Петров М.С. Применение пакета анализа изображений “Минерал С7” для расчета структурных параметров минерального сырья // VII Конгресс обогатителей стран СНГ: Материалы конгресса. Москва, 3–5 марта 2009 г. М.: МИСиС, 2009. (Электронный вариант).

7. Петров М.С., Нурканов Е.Ю., Козерчук А.Л., Кадушников Р.М. Решение задач технологической минералогии            средствами   автоматизированной оптической микроскопии // VII Конгресс обогатителей стран СНГ: Материалы конгресса. Москва, 3–5 марта 2009 г. М.: МИСиС, 2009. (Электронный вариант).

8. Kadushnikov R., Khvatkov V. Automated Methods for Visual Analysis of Carbon Nanotubes. II Joint Workshop on Measurement Issues in Carbon Nanotubes // NIST, Gaithersburg. 2005.

9. Антонов И.В., Алиевский В.М., Кадушников Р.М., Гроховский В.И. Морфологическое исследование наночастиц средствами анализа изображений // Вестник УГТУ–УПИ. Цифровая микроскопия. Екатеринбург, 2005. № 10 (62). С. 63–68.

10. Алфимов М.В., Кадушников Р.М., Антонов И.В. Структурная иерархия характеристик нанообъектов в задачах анализа и контроля перспективных материалов // Тез. докл. Международной конф. “Нанотехнологии и информационные технологии – технологии XXI века”. М.: Изд-во МГОУ. 2006. C. 31–32.

 

 

Полный текст