© 2012 г. П. Г. Шляхтенко*, канд. физ.-мат. наук, доктор техн. наук; А. Е. Рудин*, доктор техн. наук; В. П. Нефедов**, канд. техн. наук; М. М. Минникаев*
** Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна, Санкт-Петербург
** Военно-морская академия им. Н.Г. Кузнецова, Санкт-Петербург
** Е-mail: pavelshl@sutd.ru
Разработана программа, позволяющая снижать уровень шума, определяемого присутствием спеклов, при дифракционном лазерном контроле тканых материалов. Показано, что при исследовании дифракционных картин, полученных от металлических, синтетических и углеродных тканых полотен, наблюдается пропорциональный числу сложений рост отношения интенсивности основных интерференционных максимумов в суммарной дифракционной картине к интенсивности наблюдающихся в них спеклов. Полученные результаты объясняются в предположении, что появление спеклов в дифракционной картине обусловлено дифракцией от случайно расположенных неоднородностей в структуре ткани, всегда присутствующих внутри рапортов переплетения в освещаемом участке ткани.
Ключевые слова: дифракция света, спеклы, контроль геометрических параметров, тканые материалы.
Коды OCIS: 050.1940, 120.4290
УДК 535.42
Поступила в редакцию 04.04.2011
Литература
- Шляхтенко П.Г. Неразрушающие методы оптического контроля структурных параметров волокносодержащих материалов. СПб.: СПГУТД, 2010. 258 с.
- Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П. Свидетельство об официальной регистрации программы для ЭВМ № 2007610483 “Программа построения и анализа дифракционной картины от движущегося текстильного материала” // Зарегистрировано в Реестре программ для ЭВМ 17.02.2011. Опубл. Программы для ЭВМ. Бюл. № 1. 2011.
Полный текст