Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru/87)
МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ ПОГЛОЩАЮЩИХ ПЛЕНОК. ПОДЛОЖКИ БЕЗ ПОГЛОЩЕНИЯ

 

© 2018 г.       Е. Н. Котликов, доктор физ.-мат. наук; Е. В. Юрковец, аспирант

Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Санкт-Петербург

E-mail: ekotlikov45@mail.ru, iurkovetc@gmail.com

УДК 535.32: 535.34: 539.238

Поступила в редакцию 23.05.2017

Описывается метод нахождения оптических констант пленок — показателей преломления и коэффициентов поглощения. Метод основан на коррекции оптических спектров на поглощение. Полученные после коррекции спектры свободны от поглощения и могут быть проанализированы известными методами для непоглощающих пленок. Для иллюстрации предложенного метода проведен анализ спектров оптических пленок BaF2 и найдены оптические константы этих пленок в диапазоне спектра 1,7–12,5 мкм.

Ключевые слова: функция коррекции, пленки, дисперсия, фториды, показатель преломления, коэффициент поглощения, спектры отражения и пропускания.

Коды OCIS: 300.0300, 310.4165

 

Литература

1.         Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Тропин А.Н. Проектирование и изготовление интерференционных покрытий. СПб.: ГУАП, 2016. 288 с.

2.         Poelman D., Smet P.F. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: a critical review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2003. V. 36. P. 1850–1857.

3.         Коновалова О.П., Шаганов И.И. Определение оптических констант слабо-поглощающих диэлектрических слоев на прозрачной подложке // ОМП. 1988. № 8. С. 39–41.

4.        Котликов Е.Н., Котликов А.Н., Юрковец Е.В. Анализ спектров оптических пленок // Моделирование и ситуационное управлением качеством сложных систем. Сб. докладов Научной сессии ГУАП. 2016. С. 247–252.

5.         Васильев Ф.П. Численные методы решения экстремальных задач. М.: Наука, 1980. 520 с.  

6.        Свешников А.Г., Тихонравов А.Р., Фурман Ш.А., Яншин С.А. Общий метод синтеза оптических покрытий // Опт. спектр. 1985. Т. 59. № 5. С. 1161–1163. 

7.         Яковлев П.П., Мешков Б.Б. Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987. 192 с.

8.        Борн М., Вольф Э. Основы оптики. Пер. с англ. под ред. Мотулевич Г.П. М.: Наука, 1970. 856 с.  

9.        Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Программа синтеза и анализа интерференционных покрытий «Film Manager» // Информационно-управляющие системы. 2015. №1(68). С. 15–20. 

10.       Справочник технолога-оптика. Под ред. Окатова М.А. Политехника. Л.: Машиностроение, 2004. 679 с.

11.       Котликов Е.Н., Котликов А.Н., Юрковец Е.В. Программное обеспечение для нахождения оптических констант пленок // Моделирование и ситуационное управлением качеством сложных систем. Сб. докладов Научной сессии ГУАП. 2016. С. 253–257.

 

 

Полный текст