Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (02.2016) : СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ МАТЕРИАЛОВ

СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ МАТЕРИАЛОВ

 

© 2016 г.     Е. Н. Котликов, доктор физ.-мат. наук

Государственный университет аэрокосмического приборостроения, Санкт-Петербург

Е-mail: ekotlikov45@mail.ru

Предложена методика определения оптических констант материалов проходной оптики. Методика базируется на коррекции спектров поглощения. Поглощение A можно разделить на две части: AT определяет вклад в спектры пропускания, AR – в спектры отражения. Спектры AT и AR рассчитываются с использованием введенных функций коррекции и общего поглощения А и применяются для коррекции RT-спектров. После коррекции спектры не содержат поглощения и для определения оптических констант можно использовать известные методики нахождения показателя преломления n. Получены аналитические выражения для нахождения показателя поглощения . Проведена оценка точности метода, которая показала, что коррекция спектров позволяет находить n с точностью до 0,0001. Апробация метода проведена на оптическом кремнии в области полосы поглощения 9 мкм.

Ключевые слова: спектры, отражение, пропускание, коррекция спектров, коэффициенты преломления, поглощение, кремний.

Коды OCIS: 300.0300

УДК 535.321; 535.32; 539.238

Поступила в редакцию 02.07.2015

ЛИТЕРАТУРА

1.         Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 856 с.

2.         Нагибина И.М., Москалев В.А., Полушкина В.Л., Рудин В.Л. Прикладная физическая оптика. М.: Высшая школа, 2002. 565 с.

3.         Poelman D., Smet P.F. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: a critical review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2003. V. 36. P. 1850–1857.

4.        Gao L., Lemarchand F., Lequime M. Comparison of different dispersion models for single layer optical thin film index determination // Thin Solid Films. 2011. № 520. Р. 501–509.

5.         Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Исследование оптических пленок BaxMg1–xF2 // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 117. № 3. С. 48–52.

6.        Kotlikov E.N., Ivanov V.A., Tropin A.N. Film’s forming materials for THz spectral range purposes // Progress In Electromagnetics. Research Symposium PIERS. 2010. Cambridge, USA, 5–8 July, 2010. Draft abstracts. P. 88.

7.         Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Коваленко И.И. Программа синтеза и анализа интерференционных покрытий Film Manager // Информационно-управляющие системы. 2015. № 3 (76). С. 41–48. 

8.        Marvin J. Weber. Handbook of optical materials. NY: CRC Press, 2003. 499 p.

9.        Астафьев Н.И., Несмелова И.М., Несмелов Е.А. Особенности полупроводниковых материалов как оптических сред для инфракрасной области спектра // Оптический журнал. 2008. Т. 75. № 9. С. 90–93.

 

 

Полный текст >>