Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения


Контакты

Подписка

Карта сайта





Журнал с 19.02.2010 входит в новый «Перечень ведущих рецензируемых научных журналов и изданий, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертации на соискание ученой степени доктора и кандидата наук»
Аннотации (03.2009) : Применение цифровой голографической микроскопии для исследования тонких прозрачных пленок

Применение цифровой голографической микроскопии для исследования тонких прозрачных пленок

© 2009 г. Д. Н. Тишко; Т. В. Тишко; В. П. Титарь, канд. физ.-мат. наук

 

Харьковский национальный университет им. В.Н. Каразина, Харьков, Украина

 

E-mail: Tatyana.V.Tishko@univer.kharkov.ua

 

В данной работе впервые приведены экспериментальные результаты применения цифрового голографического интерференционного микроскопа (ЦГИМ) для исследования тонких (с толщинами меньше длины волны видимого света) прозрачных пленок на прозрачных подложках. ЦГИМ позволяет не только получать трехмерное изображение поверхности пленок, но и проводить количественные измерения. В качестве пленок использованы покрытия из нитрида алюминия (AlN) на акриловых подложках, которые могут быть применены для защиты изделий из акрила от воздействия окружающей среды. Исследованы поверхностные дефекты, имеющиеся на поверхности покрытий и возникшие в результате воздействия ультрафиолетового излучения на покрытие и подложку. Проведено сравнение возможностей метода классической оптической микроскопии и метода цифровой голографической микроскопии для исследования тонких прозрачных пленок. Полученные результаты подтвердили эффективность применения ЦГИМ для подобных исследований.

 

УДК 612.84: 778.38

Коды OCIS: 180.3170.

 

Поступила в редакцию 10.09.2008.

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Тишко Т.В., Титарь В.П., Тишко Д.Н. Голографические методы трехмерной визуализации фазовых микрообъектов // Оптический журнал. 2005. Т. 72. № 2. С. 48– 55.

2. Новицкий В.В., Рязанцева Н.В., Степовая Е.А., Шевцова Н.М., Миллер А.А., Зайцев Б.Н., Тишко Т.В., Титарь В.П., Тишко Д.Н. Теория и практика микроскопии эритроцита. Томск: Печатная мануфактура, 2008. 147 с.

3. Aksenov I.I., Khorosikh V.M. , Lamino N.S., Ovcharenko V.D., Zadneprovskyi Yu. A Transformation of axial vacuum arc plasma flows into radial stream and their use in coating deposition // IEEE. Transaction on Plasma Science. 1999. V.27. № 4. P. 1026.

 

 

Полный текст  >>>>

Using digital holographic microscopy to study transparent thin films

D. N. Tishko, T. V. Tishko, and V. P. Titar'

This paper presents the first experimental results of using a digital holographic interference microscope (DHIM) to study thin transparent films (with thickness less than the wavelength of visible light) on transparent substrates. The DHIM makes it possible not only to obtain a three-dimensional image of the film surface, but also to carry out quantitative measurements. Coatings composed of aluminum nitride (AlN) on acrylic substrates are used as the films, which can be used to protect items made from acryl from the action of the surroundings. Surface defects existing on the surface of the coatings and resulting from the action of UV radiation on the coating and the substrate have been studied. The method of classical optical microscopy for investigating thin transparent films has been compared with the possibilities of the method of digital holographic microscopy. The results confirmed that it is efficient to use DHIM for such studies.