Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения


Контакты

Подписка

Карта сайта





Журнал с 19.02.2010 входит в новый «Перечень ведущих рецензируемых научных журналов и изданий, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертации на соискание ученой степени доктора и кандидата наук»
Аннотации (03.2010) : МНОГОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ И ИХ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ

МНОГОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ И ИХ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ

© 2010 г. Е. И. Дмитриев, канд. техн. наук; А. В. Пудиков; А. С. Сакян, канд. техн. наук; Н. В. Сидоровский; А. Н. Старченко, канд. техн. наук; В. Г. Филиппов

 

Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем, г. Сосновый Бор, Ленинградская обл.

E-mail: contact@niiki.ru

 

На примерах показаны тенденции развития оптико-электронных комплексов для

диагностики и паспортизации источников излучения сплошного спектра в лабораторных, цеховых и натурных условиях. Рассмотрены вопросы метрологического обеспечения измерений.

 

Ключевые слова: фотоприемное устройство, аппаратно-программный комплекс, энергетическая калибровка, источник излучения сплошного спектра.

Коды OCIS: 120.0120

УДК 535.8

 

Поступила в редакцию 07.10.2009

 

Multispectral measurement complexes and their metrological assurance

E. I. Dmitriev, A. V. Pudikov, A. S. Sakyan, N. V. Sidorovskiĭ, A. N. Starchenko, and V. G. Filippov

Examples are used to show the development trends of optoelectronic complexes for the diagnosis and certification of continuous-spectrum radiation sources under laboratory, shop, and field conditions. Questions of the metrological assurance of the measurements are considered.

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Вугман С.М., Вдовин Н.С. Тепловые источники излучения для метрологии. М.: “Энергоатомиздат”, 1988 (Б-ка cветотехника, Вып. 17). 79 с.

2. Огурцова Н.Н., Подмошенский И.В., Демидов М.И. Импульсный источник света с излучением, подобным излучению абсолютно черного тела при температуре ~ 40 000 K // ОМП. 1960. № 1. С. 1–5.

3. Фотометрия. Термины и определения. ГОСТ 26148-84.

4. Импульсная фотометрия. Термины, определения и буквенные обозначения величин. ГОСТ 24286-80.

5. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,25–25 мкм. ГОСТ 195-89.

6. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов. ГОСТ 8.207-76.

 

ПОЛНЫЙ ТЕКСТ