Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения


Контакты

Подписка

Карта сайта





Журнал с 19.02.2010 входит в новый «Перечень ведущих рецензируемых научных журналов и изданий, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертации на соискание ученой степени доктора и кандидата наук»
Аннотации (03.2011) : МЕТОД ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ РЕЛЬЕФНО-ФАЗОВЫХ ГОЛОГРАММНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И ЕЕ ВЛИЯНИЯ НА ИХ ИЗОБРАЖАЮЩИЕ СВОЙСТВА

МЕТОД ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ РЕЛЬЕФНО-ФАЗОВЫХ ГОЛОГРАММНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И ЕЕ ВЛИЯНИЯ НА ИХ ИЗОБРАЖАЮЩИЕ СВОЙСТВА

© 2011 г. С. Н. Корешев, доктор техн. наук; Ю. В. Атлыгина

 

Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург

E-mail: atlygina_julia@inbox.ru, koreshev@list.ru

 

Описан способ определения коротковолновой границы применимости рельефнофазовых голограммных оптических элементов (ГОЭ), обусловленной шероховатостью их поверхности. Его суть заключается в использовании данных, получаемых с помощью атомно-силового микроскопа, для определения усредненной по базовой площади, т. е. площади сканирования, формы профиля рельефа ГОЭ; в определении на ее основе усредненных по той же базовой площади значений среднеквадратической шероховатости его поверхности и в последующем расчете граничной длины волны применимости ГОЭ. Разработан программный модуль для реализации способа.

 

Ключевые слова: рельефно-фазовая голограмма, голограммный оптический элемент, шероховатость поверхности, среднеквадратическая шероховатость поверхности, аберрации оптических систем, светорассеяние, программный модуль.

 

Коды OCIS: 090.0090, 090.2890.

УДК 53.08; 535.016

Поступила в редакцию 07.09.2010.

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Корешев С.Н., Ратушный В.П. Наноструктурирование тонких пленок халькогенидного стекло1 ХСП – халькогенидный стеклообразный полупроводник. 28 образного полупроводника в процессе формирования рельефно-фазовых голограммных структур // Опт. и спектр. 2009. Т. 106. № 2. С. 331–336.

2. Rabady R., Frankstein D., Avrutsky I. Heat treatment for reduction of surface roughness on holographic gratings // Opt. Lett. 2003. V. 28. № 18. P. 1665–1667.

3. Hunter W.R., Kowalski V.P., Rife J.C., Cruddace G. Investigation of the properties of an ion-etched plane laminar holographic grating // Appl. Opt. 2001. V. 40. № 34. P. 6157–6165.

4. Корешев С.Н., Ратушный В.П. Голографическая фотолитография на основе тонких пленок халькогенидного стеклообразного полупроводника // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 7. С. 80–85.

5. Корешев С.Н., Гиль С.В., Аникиева О.А. Влияние регистрирующей среды на аберрационные свойства голограммных оптических элементов, получаемых на тонких слоях галогенидосеребряной фотоэмульсии // Опт. и спектр. 1990. Т. 69. № 6. С. 1371–1377.

6. Марешаль А., Франсон М. Структура оптического изображения. Дифракционная теория и влияние когерентности света. М.: Мир, 1964. 295 с.

7. Фризер Х. Фотографическая регистрация информации. М.: Мир, 1978. 670 с.

8. Межгосударственный стандарт ГОСТ 2789-73 “Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики”.

9. Электронный  ресурс:  http://www.ntmdt.ru/ device/solver-p47-pro

10. Корешев С.Н., Ратушный В.П. Зависимость параметров паразитного наноструктурирования рельефно-фазовых  голограммных структур  на тонких пленках халькогенидного стеклообразного полупроводника от высоты их рельефа // Оптический журнал. 2009. Т. 76. № 5. С. 47–50.

 

 

Полный текст