© 2012 г. П. Г. Шляхтенко*, канд. физ.-мат. наук, доктор техн. наук; В. П. Нефедов**, канд. техн. наук; Ю. Н. Ветрова*, канд. техн. наук; А. Е. Рудин*, доктор техн. наук; П. А. Сухарев, аспирант
* Санкт- Петербургский государственный университет технологии и дизайна, Санкт-Петербург
** Военно-морская академия им. Н.Г. Кузнецова, Санкт-Петербург
Е-mail: pavelshl@sutd.ru
Предложен безаппаратный метод контроля углового распределения волокон в волокносодержащих материалах (ВСМ) типа бумаги, полуфабрикатов прядильного производства и т. п. материалов, основанный на компьютерном расчете дифракционной фраунгоферовой картины по компьютерному микроизображению поверхности ВСМ, скорректированному на “освещение лазерным пучком света”. Предложен алгоритм компьютерной обработки построенной таким образом дифракционной картины с выходом на угловую диаграмму светорассеяния, по которой судят об угловом распределении волокон в материале. Проведенные эксперименты на полуфабрикатах прядильного производства и бумаги показали работоспособность предложенного метода и его преимущество по сравнению с аналоговым методом контроля по угловой диаграмме обратного светорассеяния.
Ключевые слова: компьютерное обработка результатов, дифракционные компьютерные картины, анизотропия дифракционного светорассеяния, угловое распределение волокон, микроизображения поверхности, плоские волокносодержащие материалы.
Коды OCIS: 050.0050, 070.0070, 100.0100.
УДК 535.43
Поступила в редакцию 30.09.2011.
Литература
1. Шляхтенко П.Г. Неразрушающие методы оптического контроля структурных параметров волокносодержащих материалов. СПб.: СПГУТД, 2010. 258 с.
2. Шляхтенко В.П., Труевцев Н.Н., Шкроб К.Н. Метод ускоренного приготовления образцов для дифракционного контроля структурных геометрических параметров ткани // Оптический журнал. 2003. Т. 70. № 6. С. 17–21.
3. Свидетельство РФ об официальной регистрации программы для ЭВМ № 2009614350 “Программа построения на рисунке пятна света с нормальным распределением интенсивности” / Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П. Зарегистрировано в Реестре программ для ЭВМ 18.07.2009. / Программы для ЭВМ. 2009. Бюл. № 4.
4. Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П., Шкуропат С.Н. Компьютерный анализ моделей оптических изображений полотняных переплетений // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 7. С. 47–50.
5. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 719 с.
6. Шляхтенко П.Г., Суриков О.М., Калличаран С.К. Способ контроля оптической анизотропии светорассеяния плоских волокнистых материалов и устройство для его осуществления // Патент РФ № 1723503. 1992.
Полный текст