Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

КОНТРОЛЬ ОПТИЧЕСКОЙ ОДНОРОДНОСТИ МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ ИНФРАКРАСНОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА

КОНТРОЛЬ ОПТИЧЕСКОЙ ОДНОРОДНОСТИ МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ ИНФРАКРАСНОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА

© 2014 г. В. И. Вензель; А. В. Горелов; Е. С. Егорова; Н. Я. Кузнецова; Е. С. Лаврентьев; В. С. Образцов; М. И. Синельников

Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения, г. Сосновый Бор, Ленинградская обл.

Е-mail: electron@niiki.ru

Описаны дифрактометрическая и интерферометрические установки для контроля оптической однородности материалов в средней и дальней инфракрасной области спектра. Даны результаты расчета погрешности измерений оптической однородности различными методами. Приведены результаты измерения оптической однородности крупногабаритных заготовок из оптических кристаллов в инфракрасной области спектра.

Ключевые слова: оптическая однородность, дифрактометрический метод, интерферометрический метод.

Коды OCIS: OCIS: 120.5710; 110.4850; 120.3180

УДК 681.7

Поступила в редакцию 02.04.2014.

ЛИТЕРАТУРА

1. Gafni G., Azoulay M., Shilon C. Large diameter germanium single crystals for infared optics // Optical Engineering. 1989. V. 28. № 9. P. 1003–1008.

2. Gaskin R.E., Lewis C. Interferometric measurement of refractive index variations in infra-red transmitting at 10,6 µm // Opt. Acta. 1980. V. 27. № 9. P. 1287–1294.

3. Cabib D., Rahav A., Barak T. Broad-band optical test bench (OPTISHOP) to measure MTF and transmittance of visible and IR optical components // Proc. SPIE. 2007. V. 6543. P. 654311/1–654311/8.

4. Вензель В.И., Горелов А.В. Интерферометры среднего и дальнего инфракрасного диапазона спектра ИКИ-3,5 и ИКИ-10 // Оптический журнал. 2008. Т. 75. № 11. С. 47–49.

5. Deck L. Multiple surface phase-shifting interferometry // Proc. SPIE. 2001. V. 4451. P. 424–431.

6. Chiayu Ai, Wyant J.C. Measurement of the inhomogeneity of a window // Optical Engineering. 1991. V. 30. № 9. Р. 1399–1404.

7. Абдулкадыров М.А., Белоусов С.П., Семёнов А.П., Патрикеев В.Е. Интерференционный метод контроля неоднородности оптических стекол // Оптический журнал. 1997. Т. 64. № 12. С. 96–97.

8. Ган М.А., Котов В.В., Устинов С.И. Безиммерсионный метод контроля однородности крупногабаритных заготовок оптических материалов // Сб. трудов 6 Международной конференции “Прикладная оптика”. Санкт-Петербург. 2004. Т. 3. С. 190.

9. Романова Г.Э., Парпин М.А., Серегин Д.А. Компьютерные методы контроля оптики. СПб.: СПбГУ ИТМО. 2001. 185 с.

10. Basistiy I.V., Soskin M.S., Vasnetsov M.V. Optical wavefront dislocations and their properties // Optics Communications. 1995. V. 119. Р. 604–612.

 

 

Полный текст



 
Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 14 Далее