Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru/87)
Аннотации (10.2010) : НЕРАВНОПЛЕЧИЙ ИК-ИНТЕРФЕРОМЕТР ТВАЙМАНА–ГРИНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ И КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ НА СТАДИИ ШЛИФОВАНИЯ

НЕРАВНОПЛЕЧИЙ ИК-ИНТЕРФЕРОМЕТР ТВАЙМАНА–ГРИНА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ И КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ НА СТАДИИ ШЛИФОВАНИЯ

© 2010 г. М. А. Абдулкадыров*, канд. техн. наук; Н. В. Барышников**, канд. техн. наук; Д. Г. Денисов**; И. В. Животовский**, канд. техн. наук; В. Е. Карасик**, доктор техн. наук; А. П. Семенов*, канд. техн. наук; Ю. А. Шаров*

 

** ОАО “Лыткаринский завод оптического стекла”, г. Лыткарино, Московская обл.

** Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва

** E-mail: lastro@mtsmail.ru

 

Разработан неравноплечий интерферометр Тваймана–Грина с рабочей длиной волны излучения 10,6 мкм, позволяющий помимо контроля формы измерять параметры микрорельефа контролируемых шлифованных оптических поверхностей, по контрасту изображения регистрируемых интерференционных картин. Получено аналитическое выражение, связывающее значение контраста с основной характеристикой микронеровностей – среднеквадратическим отклонением высот микропрофиля шероховатых поверхностей. Представлен результат погрешности измерения формы контролируемой оптической поверхности в процессе ее формообразования, по данным топографической карты, полученной на основании регистрируемого изображения интерференционной картины. Приведены основные технические характеристики системы интерферометрического контроля.

 

Ключевые слова: телескопы, обработка оптики, оптический контроль, асферика, ИК-интерферометры.

 

Коды OCIS: 220.0220, 220.0230, 220.4610, 350.1260

УДК 535-15: 535.4: 681.7.02-04:681.787

Поступила в редакцию 04.05.2010

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Abdulkadyrov M.A., Belousov S.P., Ignatov A.N., Patrikeev V.E., Pridnya V.V., Polyanchikov A.V., Rumyantsev V.V., Samuylov A.V., Semenov A.P., Sharov Y.A. Manufacturing of primary mirrors from Sitall CO-115M for European projects TTL, NOA and VST // Proc. SPIE. 2001. V. 4451. P. 131–137.

2. Abdulkadyrov M.A., Ignatov A.N., Patrikeev V.E., Pridnya V.V., Polyanchikov F.V., Semenov A.P., Sharov Y.A., Atad-Ettengui E., Egan I., Bennet R.J., Craig S.C. M1 and M2 mirrors manufacturing for VISTA telescope // Proc. SPIE. 2004. V. 5494. P. 374–381.

3. Басс Ф.Г., Фукс И.И. Рассеяние волн на статистической неровной поверхности. М.: Наука, 1972. 424 c.

4. Рытов С.М. Введение в статистическую радиофизику. М.: Наука. Часть II. Случайные поля. 1966. 404 с.

5. Osuk Kwon, Wyant J.C., Hayslett C.R. Rough surface interferometry at 10,6 mμ // Appl. Opt. 1980. V. 19. № 11/1.

6. Sinha J.K., Tippur H.V. Infrared interferometry for rough surface measurements: application to failure characterization and flaw detection // Opt. Eng. 1997. V. 36. № 8. P. 2233–2239.

 

 

Полный текст