Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (10.2022) : Изменение оптических толщин тонких плёнок Ge, SiO и спектральных характеристик узкополосных фильтров при криогенных температурах

Изменение оптических толщин тонких плёнок Ge, SiO и спектральных характеристик узкополосных фильтров при криогенных температурах

DOI: 10.17586/1023-5086-2022-89-10-51-57

УДК 535.853: 535.323

Ссылка для цитирования: Гусев А.Г., Хасанов А.М., Нуруллин И.З., Кольцов А.Ю., Галиев А.Н., Гильфанов А.Р., Галиев Р.Р. Изменение оптических толщин тонких плёнок Ge, SiO и спектральных характеристик узкополосных фильтров при криогенных температурах // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 10. С. 51–57. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2022-89-10-51-57

Александр Григорьевич Гусев1, Алмаз Минзихатович Хасанов2* , Илья Зуфарович Нуруллин3, Алексей Юрьевич Кольцов4, Айрат Наилевич Галиев5, Айдар Рустемович Гильфанов6, Рафис Рустамович Галиев7

Научно-производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики», Казань, Россия

1gipo@telebit.ru http: //orcid.org / 0000-0003-1654-5913

2gipo@telebit.ru      http: //orcid.org / 0000-0002-8939-1938

3gipo@telebit.ru      http: //orcid.org / 0000-0003-0706-830X

4gipo@telebit.ru      http: //orcid.org / 0000-0001-9159-0250

5gipo@telebit.ru      http: //orcid.org / 0000-0003-0458-1650

6gipo@telebit.ru      http: //orcid.org / 0000-0002-2318-0097

7gipo@telebit.ru http: //orcid.org / 0000-0003-2931-644X

Аннотация

Предмет исследования. Исследовались два узкополосных фильтра с резонансными слоями из Ge, SiO при комнатной и криогенной температурах 293 К и 80 К соответственно. Цель работы. Рассматривается возможность нанесения полосовых фильтров с заранее заданными отклонениями толщин слоёв под условия эксплуатации при криогенных температурах. В представленной конструкции оптического интерференционного покрытия решается задача повышения коэффициента пропускания в рабочих спектральных диапазонах при эксплуатации при криогенных температурах. Метод. Проведено нанесение на подложку из оптического материала просветляющего полосового покрытия из пары плёнкообразующих материалов Ge-SiO методом вакуумного напыления. Толщины слоёв в процессе их напыления контролировались с помощью системы оптического контроля. Основные результаты. В работе приведены результаты измерений спектральных характеристик двух узкополосных фильтров. Методом итерации по положению длин волн максимального пропускания фильтров с резонансными слоями из Ge, SiO определены оптические толщины слоёв фильтров и их изменения при температурах 293 и 80 К. Практическая значимость. Показано, что спектральные характеристики фильтров с резонансными слоями из SiO при криогенных температурах подвержены меньшим изменениям, чем фильтры с резонансными слоями из Ge.

Ключевые слова: Ge, SiO, оптическая толщина, спектральные характеристики, криогенная температура, узкополосный интерференционный фильтр, тонкие плёнки

 

Коды OCIS:  310.6860, 310.4165.

 

СПИСОК ИСТОЧНИКОВ

1.    Гайнутдинов И.С., Несмелов Е.А., Михайлов А.В., Иванов В.П., Абзалова Г.И. Свойства и методы получения интерференционных покрытий для оптического приборостроения. Казань: Фэн, 2003. 368 c.

2.   Гайнутдинов И.С., Гусев А.Г., Кольцов А.Ю., Хасанов А.М., Потапов Р.И. Оптические свойства пленок PbTe-ZnSe при криогенных температурах // Контенант. 2015. Т. 14. № 2. С. 46.

3.   Weiting F., Pengfei Z. Optical absorption of Te-enriched PbTe coatings // Infrared Physics. 1991. № 31 (6) P. 571–573.

4.   Weiting F., Pengfei Z. Determination of the performance of edge filters containing PbTe on cooling // Infrared Physics. 1992. № 33 (1). P. 1–7.

5.   Lingmao X., Hui Z., Yanchun H., Kaifeng Z., Shenghu W., Yuqing X. Temperature coefficient of the refractive index for PbTe film // Chinese Optics Letters. 2017. № 15 (4). P. 101–103.

6.   Feng W., Yan Y. Temperature effects on the refractive index of lead telluride and zinc selenide // Infrared Physics. 1990. № 4(30). P. 371–373.

7.    Jeffrey M., Hoffman L., Wolfe W.L. Cryogenic refractive indices of ZnSe, Ge, and Si at 10.6 µm // Applied Optics. 1991. № 30(28). P. 4014–4016.

8.   Cai Y., Liu D., Luo H. Design and fabrication of 3.5~4.0 µm band-pass filter working at cryogenic temperature // Chinese Journal of Lasers. 2012. № 39(1). http://doi.org/10.3788/CJL201239.0107001.

9.   Галиев Р.Р., Нагимов И.Х., Нуруллин И.З., Гилазутдинов И.И. Оптимизация конструкции полосового интерференционного фильтра для средней ИК области спектра (5–8 мкм) // Контенант. 2021. Т. 3. № 2. С. 54–60.

10. Гусев А.Г., Кольцов А.Ю., Хасанов А.М. Термостабильные интерференционные фильтры ИК области спектра // Контенант. 2017. Т. 16. № 2. С. 51.

11.  Кольцов А.Ю., Хасанов А.М. Оптические свойства пленок PbTe при криогенных температурах // XXII Туполевские чтения (школа молодых ученых): Международная молодёжная научная конференция, 19–21 октября 2015 года: Материалы конференции. Сборник докладов. Т. 1. Казань: Фолиант, 2015. С. 447–450 с.

12.  Хасс Г., Риттер Э., Якобсон Р., Мейксин З.Г., Джоншер А.К., Хилл Р.М., Натансон Х.С., Гольдберг Я. Физика тонких пленок. М.: Мир, 1978. С. 92–93.

13.  Гайнутдинов И.С., Гусев А.Г., Кольцов А.Ю., Хасанов А.М., Галиев А.Н. Интерференционные фильтры для глубокоохлаждаемых фотоприемных устройств // XXIII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения. 28–30 мая 2014. Москва. Труды конференции. М.: ОАО «НПО «Орион», 2014. С. 365–367.

14.  Розенберг Г.В. Оптика тонкослойных покрытий. М.: Физматлит, 1958. 570 с.

15.       Азаматов М.Х., Алиакберов Р.Д., Гайнутдинов И.С. Программа для расчета спектральных характеристик оптических интерференционных покрытий // Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2016619339. 2016.