Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения


Контакты

Подписка

Карта сайта





Журнал с 19.02.2010 входит в новый «Перечень ведущих рецензируемых научных журналов и изданий, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертации на соискание ученой степени доктора и кандидата наук»
Аннотация (11.2009) : ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ПОЛОСЫ РАВНОГО НАКЛОНА ПРИ БОЛЬШИХ УГЛАХ ПАДЕНИЯ

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ПОЛОСЫ РАВНОГО НАКЛОНА ПРИ БОЛЬШИХ УГЛАХ ПАДЕНИЯ

© 2009 г. Ю. Н. Захаров, канд. физ.-мат. наук; Н. В. Чалкова

 

Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород

E-mail: zhrv@rf.unn.ru

 

Интерференция в тонких пленках, в том числе образование полос равного наклона, обычно рассматриваются для малых углов падения света. Однако в ряде случаев необходимо использовать большие углы падения лучей, когда замена синуса угла его аргументом неправомерна. В настоящей работе произведен точный расчет параметров интерференционной картины, образуемой при больших углах. При этом обнаруживается немонотонная зависимость расстояния между интерференционными полосами от угла падения. Кроме того, в работе получено выражение, связывающее расстояние между полосами с углом падения, длиной волны используемого источника света и толщиной образца, не ограниченное традиционным приближением и более точно описывающее полосы равного наклона. Экспериментальная проверка подтверждает полученные результаты.

 

Ключевые слова: интерференция, полосы равного наклона, угол падения.

 

Коды OCIS: 100.2650, 120.2650

УДК 535.41

 

Поступила в редакцию 24.07.2009

 

 

 

Interference fringes of equal inclination at large angles of incidence

Yu. N. Zakharov and N. V. Chalkova

Interference in thin films, including the formation of fringes of equal inclination, is usually considered for small angles of incidence of light. However, it is necessary in a number of cases to use large angles of incidence of the rays, when it is illicit to replace the sine of an angle by its argument. This paper presents an exact calculation of the parameters of an interference pattern formed at large angles. A nonmonotonic dependence of the distance between the interference fringes on the angle of incidence is detected in this case. Moreover, an expression that connects the distance between the fringes with the angle of incidence, the wavelength of the light source being used, and the thickness of the sample is obtained in this paper that is not limited by the traditional approximation and more accurately describes the fringes of equal inclination. An experimental verification confirms the results.

 

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 856 с.

 

Полный текст