© 2011 г. М. А. Ган, доктор техн. наук; Е. А. Никулина, магистр
НПК “Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова”, Санкт-Петербург
Е-mail: mikhail.gan@gmail.com; katerina.nikulina@gmail.com
Рассмотрена установка для измерения характеристик остаточного двулучепреломления крупногабаритных оптических кристаллов флюорита методом скрещенных поляроидов. Приведена математическая модель предложенного метода. Анализируется функция рассеяния точки, описывающая влияние двулучепреломления на качество изображения.
Ключевые слова: двулучепреломление, поляризация, аберрации, функция рассеяния точки.
Коды OCIS: 110.2960, 110.3000, 220.4840
УДК 681.7.055.4
Поступила в редакцию 09.03.2011
ЛИТЕРАТУРА
* * * * *
1. Борн М., Вольф Э. Основы оптики // М.: Наука, 1973. 720 с.
2. Шубников А.В. Оптическая кристаллография // М.: Изд-во АН СССР, 1950. 237 с.
3. Шерклифф У. Поляризованный свет // М.: Мир, 1965. 163 с.
4. Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет // М.: Мир, 1981. 39 с.
5. Ган М.А., Устинов С.И. Моделирование на ЭВМ двумерных изображений тест-объектов с учетом реальных аберраций оптических систем // Труды ГОИ. 1982. Т. 51. В. 185. 28 с.
Полный текст
