© 2013 г. В. Л. Будович*; Г. Н. Герасимов**, доктор физ.-мат. наук; Б. Е. Крылов**, канд. физ.-мат. наук; Е. Б. Полотнюк*
* Бюро аналитического приборостроения "Хромдет-Экология", Москва
** ОАО "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова", Санкт-Петербург
E-mail: bkrylov@soi.spb.ru
Исследованы спектральные и энергетические характеристики малогабаритной криптоновой лампы тлеющего разряда, используемой в качестве источника ионизации в аналитических приборах. Изучен спектр излучения лампы в вакуумном ультрафиолетовом (ВУФ) диапазоне 115-200 нм, измерен поток ВУФ излучения, получены данные о соотношении интенсивностей излучаемых лампой резонансных линий криптона 116,49 нм и 123,58 нм.
Ключевые слова: малогабаритная лампа тлеющего разряда, вакуумное ультрафиолетовое излучение, вакуумный спектрометр, проточная ионизационная камера, спектр и интенсивность излучения.
Коды OCIS: 120.3930, 260.7210, 300.6210, 300.6540.
УДК 535.32
Поступила 28.05.2013
литература
1. www.gmp.ch/htmlarea/pdf/perkinelmer/GMP_DTS_PID.pdf
2. Будович В.Л., Будович Д.В., Полотнюк Е.Б. Новые лампы вакуумного ультрафиолета для газоаналитической техники // Журнал технической физики. 2006. Т. 76. Вып. 4. С. 140-142.
3. Morozov A., Krylov B., Gerasimov G., Arnesen A., Hallin R. VUV emission spectra from binary rare gas mixtures near the resonance lines of Xe I and Kr I // Journal of Physics D: Applied Physics. 2003. V. 36. P. 1126-1134.
4. Герасимов Г.Н., Крылов Б.Е., Халлин Р., Морозов А.О., Арнесен А., Хайкеншельд Ф. Вакуумные ультрафиолетовые спектры гетероядерных димеров инертных газов в разряде постоянного тока // Опт. и спектр. 2003. T.94. № 3.С.426-435.
5. Будович В.Л., Мещеров Б.Р., Полотнюк Е.Б. Проточная ионизационная камера для измерения интенсивности излучения источников вакуумного ультрафиолета // Оптический журнал. 2012. Т. 79. №8. С. 92-95.
6. Будович В.Л., Ильин В.П., Мещеров Б.Р., Полотнюк Е.Б. Измерение абсолютной интенсивности излучения ВУФ-ламп с помощью проточной ионизационной камеры // Сборник трудов X Международной конференции "Прикладная оптика 2012". Санкт-Петербург, 2012 г.
Полный текст
