РАСЧЕТ, ПРОЕКТИРОВАНИЕ И ПРОИЗВОДСТВО ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ
Основные погрешности контроля соосности с помощью авторефлексионной оптико-электронной системы
Анисимов А.Г., Алеев А.М., Пантюшин А.В., Тимофеев А.Н.
стр 3 - Аннотация Полный текст;
Физическое моделирование двухволнового метода измерений в авторефлексионной оптико-электронной системе контроля смещений
Араканцев К.Г., Тимофеев А.Н.
стр 9 - Аннотация Полный текст;
Геометрические и оптические свойства афокальной двухзеркальной системы
Батшев В.И., Пуряев Д.Т.
стр 13 - Аннотация Полный текст;
Разработка алгоритма и программы для расширения возможностей метода оценки качества изображения оптических систем
Ле Зуй Туан, Кирилловский В.К.
стр 19 - Аннотация Полный текст;
Разработка и исследование интерферометра на основе схемы Ронки и программного обеспечения для расшифровки интерферограмм
Ле Зуй Туан, Кирилловский В.К.
стр 24 - Аннотация Полный текст;
Исследование возможности построения трехкоординатной анаморфозной системы измерения параметров угловой пространственной ориентации
Мерсон А.Д., Коняхин И.А.
стр 28 - Аннотация Полный текст;
Аберрационная структура пятна рассеяния в изображении точки при децентрировке элементов оптической системы
Зверев В.А., Тимощук И.Н.
стр 31 - Аннотация Полный текст;
Влияние перефокусировки изображения на структуру осевого пучка лучей
Зверев В.А., Тимощук И.Н.
стр 37 - Аннотация Полный текст;
ИКОНИКА – НАУКА ОБ ИЗОБРАЖЕНИИ
Итерационный алгоритм определения координат изображений точечных излучателей
Жуков Д.В., Коняхин И.А., Усик А.А.
стр 43 - Аннотация Полный текст;
Использование явления муара для увеличения точности дифракционных методов контроля геометрических параметров и пространственного положения объектов
Назаров В.Н., Иванов А.Н.
стр 46 - Аннотация Полный текст;
ОПТИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ
Особенности фоточувствительности лазерных фототерморефрактивных наностеклокерамик, активированных ионами редкоземельных элементов
Игнатьев А.И., Никоноров Н.В., Цехомский В.А., Цыганкова Е.В.
стр 51 - Аннотация Полный текст;
Модификация структуры халькогенидных стеклообразных полупроводников под воздействием фемтосекундного лазерного излучения
Лесик М.А., Аверина А.В., Шимко А.А., Маньшина А.А.
стр 57 - Аннотация Полный текст;
Измерение показателя преломления неоднородного просветляющего покрытия
Немкова А.А., Путилин Э.С.
стр 61 - Аннотация Полный текст;
ПИСЬМА В РЕДАКЦИЮ
Исследование двухлинзовых объективов-ахроматов как базовых элементов светосильных объективов приборов ночного видения
Олейник С.В., Хацевич Т.Н.
