Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru/87)
Аннотации (04.2017) : SIMPLE PHASE SHIFTING LATERAL SHEARING INTERFEROMETER BASED ON THICK BIREFRINGENT PLATE. Простой интерферометр сдвига с регулировкой фазы на основе толстой двулучепреломляющей пластины

SIMPLE PHASE SHIFTING LATERAL SHEARING INTERFEROMETER BASED ON THICK BIREFRINGENT PLATE. Простой интерферометр сдвига с регулировкой фазы на основе толстой двулучепреломляющей пластины

© 2017    Shuaiyan Gu*,**; Lei Liu*,**; Shiyu Hu*,**; Aijun Zeng*,**; Linglin Zhu*; and Huijie Huang*,**

*   Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China

** University of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China

E-mail: aijunzeng@siom.ac.cn

Submitted 17.12.2015

A simple phase shifting lateral shearing interferometer based on thick birefringent plate is proposed. The interferometer is composed of a thick birefringent plate and a polarizer. The thick birefringent plate works as the shear generator as well as the phase shifter. The optical path difference and shearing amount between the two sub-beams emerging from the thick birefringent plate change depending on the incident angle. For incident angles in a certain range, the shearing amount stays almost constant while the optical path difference varies linearly. Thus phase shifting can be obtained by rotating the thick birefringent plate. It is a very simple structure for test of a small beam and equidistant phase shifting can be obtained by equal incident angle variation. The validity of the interferometer is verified both by simulation and experiment.

Keywords: an interferometer, a birefringent plate, a polarizer, a phase shifter.

OCIS Codes: 260.3160, 260.1440, 260.5430

 

 

© 2017 г.       Shuaiyan Gu; Lei Liu; Shiyu Hu; Aijun Zeng; Linglin Zhu; Huijie Huang

Предложен простой интерферометр сдвига на основе толстой двулучепреломляющей пластины, позволяющий обеспечить переменный фазовый сдвиг между интерферирующими пучками. Интерферометр содержит толстую двулучепреломляющую пластину и поляризатор. Толстая двулучепреломляющая пластина служит как устройство пространственного разведения пучков и получения сдвига фазы между ними. Как разность оптических путей между отдельными пучками, так и их пространственное разделение зависят от угла падения исходного пучка на пластину. При этом в некотором диапазоне углов падения пространственное разделение остаётся почти неизменным, а разность оптических путей изменяется линейно от угла. Таким образом, разность фаз может регулироваться поворотом двулучепреломляющей пластины. Устройство очень просто по конструкции, подходит для контроля пучков небольшого сечения, причём эквидистантный фазовый сдвиг достигается при одинаковых изменениях угла падения. Полезность интерферометра продемонстрирована как численным моделированием, так и экспериментально.

 

REFERENCES

1.         Li R.J., Fan K.C., Miao J.W., Huang Q.X., Tao S., Gong E.M. An analogue contact probe using a compact 3D optical sensor for micro/nano coordinate measuring machines // Measurement Science and Technology. 2014. V. 25. ¹ 9. P. 1–33.

2.         Wang Y., Zhai H., Jutamulia S., Mu G. Collimation test of a corrected laser diode beam using lateral shearing interferometer // Optics Communications. 2007. V. 274. P. 412–416.

3.         Hariharan P. Interferometric testing of optical surfaces: Absolute measurements of flatness // Optical Engineering. 1997. V. 36. P. 2478–2481.

4.        Smirnova O., Mairesse Y., Patchkovskii S., Dudovich N., Villeneuve D., Corkum P., Ivanov M.Y. High harmonic interferometry of multi-electron dynamics in molecules // Nature. 2009. V. 460. P. 972–977.

5.         Toto-Arellano N.I., Serrano-Garcia D.I., Martinez-Garcia A. Parallel two-step phase shifting interferometry using a double cyclic shear interferometer // Optics Express. 2013. V. 21. P. 31983–31989.

6.        Katkovnik V., Bioucas-Dias J. Wavefront reconstruction in phase-shifting interferometry via sparse coding of amplitude and absolute phase // Journal of the Optical Society of America a-Optics Image Science and Vision. 2014. V. 31. P. 1801–1810.

7.         Liu L., Zeng A., Zhu L., Huang H. Lateral shearing interferometer with variable shearing for measurement of a small beam // Optics Letters. 2014. V. 39. P. 1992–1995.

8.        Mihaylova E., Whelan M., Toal V. Simple phase-shifting lateral shearing interferometer // Optics Letters. 2004. V. 29. P. 1264–1266.

9.        Yatagai T., Kanou T. Aspherical surface testing with shearing interferometer using fringe scanning detection method // Optical Engineering. 1984. V. 23. P. 357–360.

10.       Sickinger H., Falkenstorfer O., Lindlein N., Schwider J. Characterization of microlenses using a phase-shifting shearing interferometer // Optical Engineering. 1994. V. 33. P. 2680–2686.

11.       Griffin D.W. Phase-shifting shearing interferometer // Optics Letters. 2001. V. 26. P. 140–141.

12.       Mehta D.S., Inam M., Prakash J., Biradar A.M. Liquid-crystal phase-shifting lateral shearing interferometer with improved fringe contrast for 3D surface profilometry // Applied Optics. 2013. V. 52. P. 6119–6125.

13.       Ferrari J.A., Frins E.M., Perciante U.D. A new scheme for phase-shifting ESPI using polarized light // Optics Communications. 2002. V. 202. P. 233–237.

14.       Sarkar S., Bhattacharya K. Polarization phase shifting cyclic interferometer for surface profilometry of non-birefringent phase samples // Journal of Modern Optics. 2013. V. 60. P. 185–189.

15.       Song J.B., Lee Y.W., Lee I.W., Lee Y.H. Simple phase-shifting method in a wedge-plate lateral-shearing interferometer // Applied Optics. 2004. V. 43 P. 3989–3992.

 

 

Полный текст