Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

УВАЖАЕМЫЕ ПОДПИСЧИКИ НАШЕГО ЖУРНАЛА!
По техническим причинам «Оптический журнал» не попал в каталог агентства «Роспечать» на II полугодие 2018 г., что делает невозможной подписку на него на почте. Предлагаем оформить подписку на II полугодие 2018 в редакции журнала удобным Вам способом. Стоимость подписки на полугодие сохраняется (6600 руб.).
Связаться с нами можно по т. (812) 315-05-48, Е-mail: beditor@soi.spb.ru

Аннотации (10.2018) : МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ ПЛЁНОК НА ПОГЛОЩАЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ

МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ ПЛЁНОК НА ПОГЛОЩАЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ

 

© 2018 г.       Е. Н. Котликов, доктор физ.-мат. наук; Ю. А. Новикова, канд. физ.-мат. наук; Е. В. Юрковец, аспирант

Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Санкт-Петербург

E-mail: ekotlikov45@mail.ru, Nov-Jliana@yandex.ru, iurkovetc@gmail.com

УДК 535.32: 535.34: 539.238

Поступила в редакцию 26.05.2018

Описывается метод нахождения оптических констант плёнок — показателей преломления и коэффициентов поглощения на подложках, обладающих поглощением. Метод основан на коррекции оптических спектров плёнок на подложках, которая производится с учётом эффекта поглощения в подложке. Полученные после коррекции спектры свободны от влияния поглощения и могут быть проанализированы известными методами для непоглощающих плёнок на непоглощающих подложках. Для иллюстрации предложенного метода проведён анализ спектров оптических плёнок CaY2F8 и найдены оптические константы этих плёнок в диапазоне спектра 1,4–25 мкм.

Ключевые слова: функции коррекции, плёнки, подложки, кремний, фториды, дисперсия, показатель преломления, коэффициент поглощения, спектры отражения и пропускания.

Коды OCIS: 300.0300, 310.4165

 

DOI:10.17586/1023-5086-2018-85-10-64-69

 

 

Литература

1.         Willey R.R. Practical production of optical thin films. Charlevoix: Optical Consultants, 2008. 419 p. 

2.         Котликов Е.Н., Кузнецов Ю.А., Лавровская Н.П., Тропин А.Н. Оптические пленкообразующие материалы для инфракрасной области спектра // Научное приборостроение. 2008. Т. 18. № 3. С. 32–37. 

3.         Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Тропин А.Н. Проектирование и изготовление интерференционных покрытий. СПб.: ГУАП. 2016. 288 с.

4.         Тропин А.Н. Пленкообразующие материалы для тонкослойных оптических покрытий: новые задачи и перспективы (обзор) // Успехи прикладной физики. 2016. Т. 4. № 2. С. 206–211. 

5.         Gao L., Lemarchand F., Lequime M. Exploitation of multiple incidences spectrometric measurements for thin film reverse engineering // Optics Express. 2012. V. 20. № 14. P. 15734–15750.

6.         Poelman D., Smet P.F. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: a critical review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2003. V. 36. P. 1850–1857.

7.         Котликов Е.Н., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант поглощающих пленок. Подложки без поглощения // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 1. С. 59–64. 

8.        Справочник технолога-оптика // Политехника / Под ред. Окатова М.А. Л.: Машиностроение, 2004. 679 с.

9.         Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Оптические константы кремния в диапазоне 30–10000 см–1 // Оптика и спектрометрия. 2016. Т. 120. № 5. С. 165–168. 

10.       Яковлев П.П., Мешков Б.Б. Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987. 192 с. 

11.       Коновалова О.П., Шаганов И.И. Определение оптических констант слабо-поглощающих диэлектрических слоев на прозрачной подложке // ОМП. 1988. № 8. С. 39–41. 

12.       Котликов Е.Н. Спектрофотометрический метод определения оптических констант материалов // Оптический журнал. 2016. Т. 83. № 2. С. 3–7. 

13.       Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 856 с. 

14.       Котликов Е.Н., Котликов А.Н., Юрковец Е.В. Программное обеспечение для нахождения оптических констант пленок // Моделирование и ситуационное управлением качеством сложных систем. Сб. докладов Научной сессии ГУАП. 2016. С. 253–257.

 

 

Полный текст