Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (04.2019) : МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ПО СФЕРИЧЕСКОЙ ВЫПУКЛОЙ ПОВЕРХНОСТИ БОЛЬШОЙ КРИВИЗНЫ

МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ПО СФЕРИЧЕСКОЙ ВЫПУКЛОЙ ПОВЕРХНОСТИ БОЛЬШОЙ КРИВИЗНЫ

 

© 2019 г.       Т. Л. Хоанг, аспирант; Л. А. Губанова, доктор техн. наук; В. К. Кирилловский, доктор техн. наук; И. Б. Терещенко, аспирант; Д. Т. Нгуен, аспирант

Университет ИТМО, Санкт-Петербург

E-mail: dragonitmo@gmail.com, la7777@mail.ru

УДК 53.082.531

Поступила в редакцию 06.12.2018

DOI:10.17586/1023-5086-2019-86-04-17-21

В работе рассмотрен способ измерения коэффициента отражения по радиальным координатам выпуклой сферической поверхности оптической детали, имеющей большую кривизну. Представлены результаты измерения коэффициента отражения как чистой поверхности, так и поверхности с просветляющим покрытием. Оценка полученных результатов показала, что максимальная относительная погрешность отклонения коэффициента отражения от теоретического расчёта не превышает 4,5%.

Ключевые слова: оптические измерения, оптические покрытия, оптическая деталь большой кривизны, просветляющее покрытие.

Коды OCIS: 120.5700, 310.1210

 

Литература

1.         Yang S., Huang K., Chen C. et al. Wide-angle lens design // Classical Optics. 2014. Paper JTu5A.27.

2.         Herzig H.P. Microoptics: elements, systems and applications. London: CRC Press, 1997. 370 р.

3.         Ruediger G. Thin film microoptics: new frontiers of spatio-temporal beam shaping. Amsterdam: Elsevier Science, 2007. 306 p.

4.        Dizem A., Richard A.S., Sung K. C. et al. Reflectance spectroscopy for diagnosis of epithelial precancer: model-based analysis of fiber-optic probe designs to resolve spectral information from epithelium and stroma // Appl. Opt. 2005. V. 44. № 20. P. 4291–4305.

5.         Baumeister P.W. Optical coating technology. Washington: SPIE Press monograph, 2004. V. PM137. 840 p.

6.        Macleod H.A. Thin-film optical filters. Boca Raton: CRC Press, 2010. 800 p.

7.         Электронный ресурс. Режим доступа: http://www.essentoptics.com/f/file/LINZA150_rus_09112017.pdf

8.        Gharghi M., Sivoththaman S. Design of anti-reflection coating for spherical silicon photovoltaic devices // Proc. of SPIE. 2008. V. 7045. P. 704509.

9.        Гуревич М.М. Фотометрия (теория, методы и приборы). Л.: Энергоатомиздат, 1983. 269 c.

10.       Сапожников Р.А. Теоретическая фотометрия. Л.: Энергия, 1977.  264 с.

11.       Shenghao W., Shijie L., Jianda S. et al. Apparatus for measuring the uniformity of the optical transmittance of a semispherical surface at normal incidence // Appl. Opt. 2018. V. 57. № 13. P. 3395–3400.

12.       Ландсберг Г.С. Оптика. Учеб. пособие: для вузов. М.: Физматлит, 2003. 848 с.

13.       Никифоров С.Г. Измерительная лаборатория для комплексного исследования характеристик светодиодов, применяемых в системах отображения информации // Компоненты и технологии. 2007. № 7. C. 170.

14.       Хоанг Т.Л., Губанова Л.А., Нгуен В.Б. Увеличение зоны просветления оптических деталей большой кривизны // Компьютерная оптика. 2017. Т. 41. № 6. С. 856.

 

 

Полный текст