Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (05.2019) : АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ПОИСКА ДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ

АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ПОИСКА ДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ

© 2019 г.       С. А. Бельков, доктор физ.-мат. наук; И. Н. Воронич, канд. физ.-мат. наук; А. С. Губкин; В. Н. Деркач, канд. физ.-мат. наук; И. Н. Деркач; А. В. Добиков; В. О. Лащук; В. А. Щеников

Российский федеральный ядерный центр — Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики, институт лазерно-физических исследований, г. Саров Нижегородской обл.

E-mail: a.g.s.111@yandex.ru

УДК 617.7 535.34

Поступила в редакцию 01.02.2019

DOI:10.17586/1023-5086-2019-86-05-57-60

Наличие в стекле дефектов — пузырей, свилей и царапин, снижает оптическую прочность деталей и ведет к интенсивному рассеянию света и потерям энергии излучения, а также к возникновению амплитудных и фазовых искажений лазерного пучка, приводящих к развитию осцилляций интенсивности. Представленная система поиска дефектов оптических деталей работает в полуавтоматическом режиме и позволяет находить различные дефекты, а также определять их координаты и размеры. Характеристики системы: минимальный размер обнаруживаемого дефекта — 30 мкм, абсолютная погрешность определения его координат — 200 мкм, максимальная погрешность измерения размера — 10%. В процессе аттестации оптических деталей используются теневой или торцевой методы подсветки, в ряде случаев — их комбинация.

Ключевые слова: поиск дефектов, теневой метод, метод торцевой подсветки, пузырь, свиль.

Коды OCIS: 220.4840, 120.4290

 

ЛИТЕРАТУРА

1.         Васильев Л.А. Теневые методы. М.: Наука, 1968. 400 с.

2.         Малакара  Д. Оптический производственный контроль. М.: Машиностроение, 1985. 400 с.

3.         Rainer F. Mapping and inspection of damage and artifacts in large-scale optics // Proc. 29th Boulder Damage Symp., Intern. Soc. Opt. Eng., 1997. P. 272–281.

4.        Prasad R.R., Bernacil M., Halpin J., at al. Design of an illumination technique to improve the identification of surface flaws on optics // Proc. 36th Boulder Damage Symp., Intern. Soc. Optics and Photonics, 2005. P. 421–426.

 

 

Полный текст