Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (01.2020) : ОПТИЧЕСКИЕ И СТРУКТУРНЫЕ СВОЙСТВА ПЛЕНОК ZNS0,5SE0,5 И ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ФИЛЬТРЫ НА ИХ ОСНОВЕ

ОПТИЧЕСКИЕ И СТРУКТУРНЫЕ СВОЙСТВА ПЛЕНОК ZNS0,5SE0,5 И ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ФИЛЬТРЫ НА ИХ ОСНОВЕ

 

© 2020 г.      Е. Н. Котликов*, доктор физ.-мат. наук; А. Н. Тропин*, **, канд. физ.-мат. наук

*   Санкт Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Санкт-Петербург

** Научно-исследовательский институт «Гириконд», Санкт-Петербург

E-mail: 216@giricond.ru

УДК 535.323:535.345.673

Поступила в редакцию 08.10.2019

DOI:10.17586/1023-5086-2020-87-01-56-61

Исследованы структурные и оптические свойства тонких пленок твердого раствора ZnS0,5Se0,5, используемых для создания многослойных интерференционных покрытий, работающих в ближней и средней инфракрасных областях спектра. Методом рентгеноструктурного анализа исследованы структурные особенности и фазовый состав исходного пленкообразующего материала и пленок, полученных термическим испарением в вакууме, на подложках из боросиликатного стекла, монокристаллов германия и кремния. Рассчитаны дисперсионные зависимости оптических констант по данным спектрофотометрических измерений исследованных пленок в спектральном диапазоне от 2 до 25 мкм. Представлены результаты проектирования и изготовления инфракрасных интерференционных фильтров с использованием исследованных пленок: полосового фильтра с пропусканием в диапазоне длин волн от 8 до 12 мкм и узкополосного фильтра с максимумом пропускания на длине волны 10,56 мкм и полушириной 140 нм.

Ключевые слова: оптические пленки, инфракрасный спектр, селенид цинка, сульфид цинка, твердый раствор, фазовый состав, оптические константы, интерференционный фильтр.

Коды OCIS: 160.4670, 310.1620

 

ЛИТЕРАТУРА 

1.         Kotlikov E.N., Ivanov V.A., Tropin A.N. Film’s forming materials for THz spectral range purposes // Progress in Electromagnetics. Research Symp. PIERS 2010 in Cambridge, USA. 2010. Draft abstracts. P. 88.

2.         Hawkins G., Sherwood R., Djotni K. Mid-infrared filters for astronomical and remote sensing instrumentation // Advances in Optical Thin Films III. Proc. SPIE. 2008. V. 7101. P. 710114-1–710114-15.

3.         Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г. Современное состояние и перспективы развития зарубежных тепловизионных систем // Научно-техн. вестник информационных технологий, механики и оптики. 2013. № 3(85). C. 1–13.

4.         Котликов Е.Н., Иванов В.А., Прокашев В.Н. и др. Исследование оптических свойств пленок германия в средней ИК области спектра // Опт. спектр. 2010. Т. 108. № 6. С. 1003–1006.

5.         Тропин А.Н. Пленкообразующие материалы для тонкослойных оптических покрытий: новые задачи и перспективы (обзор) // Успехи прикладной физики. 2016. Т. 4. № 2. С. 206–211.

6.         Netterfield R.P. Refractive indices of zinc sulfide and criolite in multilayer stacks // Appl. Opt. 1976. V. 15 № 8. P. 1969–1973.

7.         Castiblanco R., Vargas J., Morales J., et al. Determination of the optical properties of ZnSe thin films using the transfer matrix method // J. Phys.: Conf. Series. 2014. V. 480. P. 012025-1–6.

8.        Chin T.N., O’Neill O.B., Houser P.E. Growth and structure of electron-beam evaporated ZnS films // Application of Surface Sci. 1982. № 11/12. P. 553–562.

9.         Томашик В.Н., Грыцив В.И. Диаграммы состояния систем на основе полупроводниковых соединений AIIBVI. Справочник. Киев: Наукова думка, 1982. 168 с.

10.       Котликов Е.Н. Спектрофотометрический метод определения оптических констант материалов // Оптический журнал. 2016. Т. 83. № 2. C. 61–67.

11.       Котликов Е.Н., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант поглощающих пленок. Подложки без поглощения // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 1. С. 59–64.

12.       Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант пленок на поглощающих подложках // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 10. С. 64–69.

 

 

Полный текст