© 2011 г. В. П. Иванов, доктор техн. наук; В. А. Балоев, канд. техн. наук; Н. П. Ларионов, канд. техн. наук; А. В. Лукин, доктор техн. наук
Научно-производственное объединение “Государственный институт прикладной оптики”, Казань
Е-mail: npogipo@tnpko.ru
Рассмотрены особенности и представлены результаты применения интерферометра для контроля формы вогнутых параболических и эллиптических поверхностей, разработанного на основе использования свойств анаберрационных точек этих поверхностей. В нем осуществляется однократное отражение лучей от контролируемой поверхности, поэтому интерферометр пригоден для тестирования асферических поверхностей, обладающих большими отклонениями от заданной формы на начальной стадии их полировки. Такая ситуация встречается при формообразовании асфериче-ских поверхностей с большой асферичностью и крутизной.
Ключевые слова: интерферометр, контроль асферических поверхностей.
Коды OCIS: 220.1140
УДК 535.347
Поступила в редакцию 11.11.2010
ЛИТЕРАТУРА
1. Оптический производственный контроль // Под ред. Малакары Д. М.: Машиностроение, 1985. С. 346–362.
2. Пуряев Д.Т. Методы контроля оптических асферических поверхностей. М.: Машиностроение, 1976. С. 65–88, 105–152, 177–184.
3. Агачев А.Р., Ларионов Н.П., Лукин А.В., Миронова Т.А., Нюшкин А.А., Протасевич Д.В., Рафиков Р.А. Синтезированная голограммная оптика // Оптический журнал. 2002. Т. 69. № 12. С. 23–32.
4. Ларионов Н.П. Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка // Патент России № 2396513. 2010.
Полный текст
