Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (04.2014) : ФОРМИРОВАНИЕ ДИАГРАММЫ РАССЕЯНИЯ С ПОМОЩЬЮ ШЕРОХОВАТОСТЕЙ НА ГРАНИЦЕ СТЕКЛА

ФОРМИРОВАНИЕ ДИАГРАММЫ РАССЕЯНИЯ С ПОМОЩЬЮ ШЕРОХОВАТОСТЕЙ НА ГРАНИЦЕ СТЕКЛА

© 2014 г.    В. В. Стаценко, аспирант; В. Д. Петриков

Санкт­Петербургский государственный политехнический университет, Санкт­Петербург

Е­mail: v.statcenko@gmail.com

Проведены исследование и сравнение оптических свойств шероховатых поверхностей стекла, полученных различными методами. Показано, что при создании шероховатой поверхности с помощью шлифовальных порошков размером зерна от 10 до 40 мкм ширина диаграммы рассеяния увеличивается до 35°, но при этом за счет внутренних отражений снижается количество пропускаемого излучения. Отмечено, что создание шероховатой поверхности с помощью травления обеспечивает более узкие диаграммы рассеяния, но снижает потери прошедшего излучения.

Ключевые слова: диаграмма рассеяния, шлифовка.

Коды OCIS: 290.5880

УДК 535.016

Поступила в редакцию 04.10.2013

 

 

ЛИТЕРАТУРА

1.         Асланов Э., Досколович Л.Л. Тонкий коллиматор для светодиодов // Компьютерная оптика. 2012. Т. 36. № 1. С. 96–101.

2.         Arvind Shah. Thin­film silicon solar cells. Italy: EPFL Press, 2010. 430 p.

3.         Krc J., Zeman M., Kluth O.,Smole F., Topic M. Effect of surface roughness of ZnO:Al films on light scattering in hydrogenated amorphous silicon solar cells // Thin Solar Films. 2003. V. 426. P. 296–304.

4.        Ren J., Ganapathysubramanian B., Sundararajan S. Experimental analysis of the surface roughness evolution of etched glass for micro/nanofluidic devices // J. Micromech. and Microeng. 2011. V. 21. № 2. 025012. 7 pp.

5.         Pápa Z. Budai J., Farkas B., Toth Z. Investigation of surface roughness on etched glass surfaces // Thin Solar films. 2011. V. 519. P. 2903–2906.

6.        Fouckhardt H., Hein E., Fox D., Jaax M. Multitude of glass surface roughness morphologies as a tool box for dosed optical scattering // Appl. Opt. 2010. V. 49. № 8. P. 1364–1372.

7.         Kurdzesau F.V. Preparation of ZnO:B films with different optical haze and their influence on a­Si:H / µc­Si:H layers formation and light trapping in thin film silicon solar cells // Problems of Physics, Mathematics and Technics. 2011. № 4 (9). P. 45–50.

8.        http://www.oerlikon.com

 

 

Полный текст