Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
 
   
Русский вариант сайта Английский вариант сайта
   
       
   
       
Статьи последнего выпуска

Электронные версии
выпусков начиная с 2008


Алфавитный указатель
2000-2010 гг


444
Архив оглавлений
выпусков 2002-2007 гг


Реквизиты и адреса

Вниманию авторов и рецензентов!
- Порядок публикации
- Порядок рецензирования статей
- Типовой договор
- Правила оформления
- Получение авторского вознаграждения
- Редакционная этика


Контакты

Подписка

Карта сайта




Журнал с 01.12.2015 допущен ВАК для публикации основных результатов диссертаций как издание, входящее в международные реферативные базы систем цитирования (Web Science, Scopus) (см. Vak.ed.gov.ru Перечень журналов МБД 16.03.2018г)

Аннотации (05.2016) : СРАВНЕНИЕ МЕТОДОВ ОЦЕНКИ КОГЕРЕНТНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЛАЗЕРОВ ПО КОНТРАСТУ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС И МОРФОЛОГИИ СПЕКЛ-КАРТИН

СРАВНЕНИЕ МЕТОДОВ ОЦЕНКИ КОГЕРЕНТНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЛАЗЕРОВ ПО КОНТРАСТУ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС И МОРФОЛОГИИ СПЕКЛ-КАРТИН

 

© 2016 г.     А. В. Князьков, доктор физ.-мат. наук; Р. И. Харисов, магистр

Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург

Е-mail: kniazkov@rphf.spbstu.ru

Проведено сравнение классического метода определения длины когерентности излучения полупроводниковых лазеров по спаду кривой видности интерференционных полос и спекл-метода по количеству связных областей интерференционной картины спекл-полей, использующего морфологические числа Эйлера. Исследование проведено на базе интерферометра Майкельсона с переменной оптической разностью хода плеч в несколько сантиметров. Приводятся результаты сравнения этих методов для оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров красного (650 нм), зеленого (532 нм) и синего (450 нм) диапазонов. Показана хорошая корреляция кривых видности интерференционных полос и зависимостей морфологических чисел Эйлера от фазовой задержки, вызываемой подвижным плечом интерферометра. Отмечено, что морфологический метод оценки когерентности излучения по картинам интерференции спекл-полей обладает высокой скоростью обработки и отличается простотой по сравнению с традиционно используемым методом измерения видности контраста интерференционных полос.

Ключевые слова: метод определения длины когерентности, полупроводниковый лазер, видность интерференционных полос, интерференционная картина спекл-полей, морфологические числа Эйлера.

Коды OCIS: 030.1670, 030.6140

УДК 535.41

Поступила в редакцию 29.01.2016

ЛИТЕРАТУРА

1.         Вольф Э., Мандель Л. Когерентные свойства оптических полей // УФН. 1965. Т. 87. № 3. С. 491–520.

2.         Захаров Ю.Н., Малов А.Н., Попов А.Ю., Тюрин А.В. Исследование когерентных свойств лазерного излучения методами голографии и спекл-интерферометрии // Компьютерная оптика. 2009. Т. 33. № 1. С. 61–69.

3.         Князьков А.В., Кукуричкин В.А. Влияние температуры на когерентность излучения полупроводниковых лазеров // Научно-техн. ведомости СПбГПУ. 2013. Вып. 4–1(182). C. 93–99.

4.        MorphologicalEulerNumber, http://reference.wolfram.com/language/ref/MorphologicalEulerNumber.html

 

 

Полный текст >>>