ITMO
en/ en

ISSN: 1023-5086

en/

ISSN: 1023-5086

Научно-технический

Оптический журнал

Полнотекстовый перевод журнала на английский язык издаётся Optica Publishing Group под названием “Journal of Optical Technology“

Подача статьи Подать статью
Больше информации Назад

УДК: 535.544, 53.088

Двухпараметрический метод моментов как инструмент оценки электрооптических коэффициентов при периодической модуляции отраженного света

Ссылка для цитирования:

Яковлева Т.В., Князьков А.В. Двухпараметрический метод моментов как инструмент оценки электрооптических коэффициентов при периодической модуляции отраженного света // Оптический журнал. 2015. Т. 82. № 1. С. 16–21.

 

Yakovleva T.V., Knyazkov A.V. The two-parameter method of moments as a tool for estimating electrooptic coefficients with periodic modulation of reflected light [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2015. V. 82. № 1. P. 16–21.

Ссылка на англоязычную версию:

T. V. Yakovleva and A. V. Knyaz’kov, "The two-parameter method of moments as a tool for estimating electrooptic coefficients with periodic modulation of reflected light," Journal of Optical Technology. 82(1), 12-15 (2015). https://doi.org/10.1364/JOT.82.000012

Аннотация:

В работе проводится сопоставление двух методов определения электрооптического коэффициента среды: разработанного авторами двухпараметрического метода моментов и традиционно используемого метода линейной регрессии. Показано, что задача определения электрооптического коэффициента путем измерения отраженной световой волны математически описывается статистической моделью Райса. Полученные экспериментальные данные, демонстрирующие достаточно хорошее совпадение результатов применения обоих сопоставляемых методов, подтверждают эффективность нового метода двухпараметрического анализа для решения задачи оценивания электрооптических коэффициентов среды.

Ключевые слова:

распределение Райса, электрооптический коэффициент, двухпараметрический анализ, метод моментов, линейная регрессия

Коды OCIS: 000.3860; 120.4530

Список источников:

1. Мустель Е.П., Парыгин В.Н. Методы модуляции и сканирования света. М.: Наука, 1970. 296 с.
2. Князьков А.В. Измерение наведенного двулучепреломления электрооптических материалов по модуляции коэффициента отражения света // Научно-технические ведомости СПбГПУ. 2013. № 4-1(182). C. 100–104.
3. Benedict T.R, Soong T.T. The joint estimation of signal and noise from the sum envelope // IEEE Trans. Inf. Theory. 1967. V. IT-13. № 3. Р. 447–454.
4. Яковлева Т.В. Теоретический расчет сигнала и шума при анализе огибающей в условиях распределения Райса // Сборник научных трудов III Всероссийской конференции по фотонике и информационной оптике. М.: НИЯУ МИФИ, 29–31 января 2014. C. 147–148.

5. Яковлева Т.В. Двухпараметрический метод моментов для расчета сигнала и шума в условиях Райсовского распределения: теория // Труды 21-ой Международной конференции «Математика. Компьютер. Образование». г. Дубна, 3–8 февраля 2014. C. 85.
6. Yakovleva T.V., Kulberg N.S. Noise and signal estimation in MRI: two-parametric analysis of Rice-distributed data by means of the maximum likelihood approach // American Journal of Theoretical and Applied Statistics. 2013. V. 2. № 3. P. 67–79.
7. Яковлева Т.В. Обзор методов обработки магнитно-резонансных изображений и развитие нового двухпараметрического метода моментов // Компьютерные исследования и моделирование. 2014. Т. 6. № 2. С. 231–244.
8. Яковлева Т.В., Кульберг Н.С. Методы математической статистики в решении задачи двухпараметрического анализа райсовского сигнала // Доклады Академии наук. Серия Математика. 2014. Т. 459. № 1. С. 27–31.
9. Яковлева Т.В., Кульберг Н.С. Методы математической статистики как инструмент двухпараметрического анализа магнитно-резонансного изображения // Информатика и ее применения. 2014. T. 8. Вып. 3. C. 51–61.
10. Абрамовиц М., Стиган И. Справочник по специальным функциям. М.: Наука, 1979. 832 c.
11. Рытов С.М. Введение в статистическую радиофизику. Ч. 1. Случайные процессы. М.: Наука, 1976. 494 c.
12. Park J.H., Jr. Moments of generalized Rayleigh distribution // Q. Appl. Math. 1961. V. 19. № 1. P. 45–49.