Метод определения оптических констант поглощающих пленок. Подложки без поглощения

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Котликов Е.Н., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант поглощающих пленок. Подложки без поглощения // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 1. С. 59–64. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-01-59-64

Kotlikov E.N., Yurkovets E.V. Method of determining the optical constants of absorbing films: substrates with no absorption [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2018. V. 85. № 1. P. 59–64. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-01-59-64

Ссылка на англоязычную версию:

E. N. Kotlikov and E. V. Yurkovets, "Method of determining the optical constants of absorbing films: substrates with no absorption," Journal of Optical Technology. 85(1), 48-52 (2018). https://doi.org/10.1364/JOT.85.000048

Аннотация:

Описывается метод нахождения оптических констант пленок — показателей преломления и коэффициентов поглощения. Метод основан на коррекции оптических спектров на поглощение. Полученные после коррекции спектры свободны от поглощения и могут быть проанализированы известными методами для непоглощающих пленок. Для иллюстрации предложенного метода проведен анализ спектров оптических пленок BaF2 и найдены оптические константы этих пленок в диапазоне спектра 1,7–12,5 мкм.

Ключевые слова:

функция коррекции, пленки, дисперсия, фториды, показатель преломления, коэффициент поглощения, спектры отражения и пропускания

Коды OCIS: 300.0300, 310.4165

Список источников:

1. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Тропин А.Н. Проектирование и изготовление интерференционных покрытий. СПб.: ГУАП, 2016. 288 с.
2. Poelman D., Smet P.F. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: A critical review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2003. V. 36. P. 1850–1857.
3. Коновалова О.П., Шаганов И.И. Определение оптических констант слабо-поглощающих диэлектрических слоев на прозрачной подложке // ОМП. 1988. № 8. С. 39–41.
4. Котликов Е.Н., Котликов А.Н., Юрковец Е.В. Анализ спектров оптических пленок // Моделирование и ситуационное управлением качеством сложных систем. Сб. докладов Научной сессии ГУАП. 2016. С. 247–252.
5. Васильев Ф.П. Численные методы решения экстремальных задач. М.: Наука, 1980. 520 с.
6. Свешников А.Г., Тихонравов А.Р., Фурман Ш.А., Яншин С.А. Общий метод синтеза оптических покрытий // Опт. спектр. 1985. Т. 59. № 5. С. 1161–1163.
7. Яковлев П.П., Мешков Б.Б. Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987. 192 с.
8. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. Пер. с англ. под ред. Мотулевич Г.П. М.: Наука, 1970. 856 с.
9. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Программа синтеза и анализа интерференционных покрытий «Film Manager» // Информационно-управляющие системы. 2015. №1(68). С. 15–20.
10. Справочник технолога-оптика. Под ред. Окатова М.А. Политехника. Л.: Машиностроение, 2004. 679 с.
11. Котликов Е.Н., Котликов А.Н., Юрковец Е.В. Программное обеспечение для нахождения оптических констант пленок // Моделирование и ситуационное управлением качеством сложных систем. Сб. докладов Научной сессии ГУАП. 2016. С. 253–257.