|
Y. G. Zhan, H. Y. Zhang, X. C. Ye, Y. Z. Zhou, Z. S. Qiu, F. Yang, P. Zhong, M. Jiang, and H. Y. Zhou The influence of piezo-electric transducer displacement error on defect detection in digital shearography speckle pattern interferometry (Влияние ошибок перемещения пьезоэлектрического привода на обнаружение дефектов в цифровой сдвиговой интерферометрии) [на англ. яз.] // Оптический журнал. 2017. Т. 84. № 6. С. 44–50.
Y. G. Zhan, H. Y. Zhang, X. C. Ye, Y. Z. Zhou, Z. S. Qiu, F. Yang, P. Zhong, M. Jiang, and H. Y. Zhou The influence of piezo-electric transducer displacement error on defect detection in digital shearography speckle pattern interferometry (Влияние ошибок перемещения пьезоэлектрического привода на обнаружение дефектов в цифровой сдвиговой интерферометрии) [in English] // Opticheskii Zhurnal. 2017. V. 84. № 6. P. 44–50.
|
Abstract
|
Back
