Влияние мезоскопических объектов, локализованных в слоистой структуре, на распределение светового поля в ближнеполевой микроскопии поверхности

Евлюхин А.Б., Евлюхина Е.В. Влияние мезоскопических объектов, локализованных в слоистой структуре, на распределение светового поля в ближнеполевой микроскопии поверхности // Оптический журнал. 2004. Т.71. №6 С. 58-64.

Evlyukhin A.B., Evlyukhina E.V. How mesoscopic objects localized in a layered structure affect the light-field distribution in near-field surface microscopy [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2004. V. 71. No 6. P. 58-64.

Evlyukhin A.B., Evlyukhina E.V. How mesoscopic objects localized in a layered structure affect the light-field distribution in near-field surface microscopy // Journal of Optical Technology. 2004. V. 71. № 6. P. 384-389. https://doi.org/10.1364/JOT.71.000384

Рассмотрен процесс формирования изображений в ближнеполевой оптической микроскопии наноскопических частиц, локализованных внутри или на поверхности однослойной диэлектрической структуры. В качестве ближнеполевого источника излучения и зонда выступает малый диэлектрический объект сканирующий поверхность образца. Модель основана на самосогласованных интегральных уравнениях для электрических полей в системе. Электрическое взаимодействие в ближней волновой зоне описывается в рамках квазистатического приближения. Численно моделируется распределение электрического поля как в ближней, так и дальней волновой зоне системы. Показано, как слоистое диэлектрическое окружение и подложка могут влиять на контраст и вид изображений мезоскопических частиц в зависимости от их диэлектрических свойств. Продемонстрировано, что изменение разрешения с увеличением расстояния между зондом и поверхностью образца существенным образом зависит от способа регистрации сигнала.