Сравнение методов оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров по контрасту интерференционных полос и морфологии спекл-картин

Князьков А.В., Харисов Р.И. Сравнение методов оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров по контрасту интерференционных полос и морфологии спекл-картин // Оптический журнал. 2016. Т. 83. № 5. С. 55–58.

Kniazkov A.V., Kharisov R.I. Comparison of methods for determining the coherence of semiconductor laser light based on interference fringe contrast and speckle pattern morphology [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2016. V. 83. № 5. P. 55–58.

A. V. Kniazkov and R. I. Harisov, "Comparison of methods for determining the coherence of semiconductor laser light based on interference fringe contrast and speckle pattern morphology," Journal of Optical Technology. 83(5), 309-312 (2016). https://doi.org/10.1364/JOT.83.000309

Проведено сравнение классического метода определения длины когерентности излучения полупроводниковых лазеров по спаду кривой видности интерференционных полос и спекл-метода по количеству связных областей интерференционной картины спекл-полей, использующего морфологические числа Эйлера. Исследование проведено на базе интерферометра Майкельсона с переменной оптической разностью хода плеч в несколько сантиметров. Приводятся результаты сравнения этих методов для оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров красного (650 нм), зеленого (532 нм) и синего (450 нм) диапазонов. Показана хорошая корреляция кривых видности интерференционных полос и зависимостей морфологических чисел Эйлера от фазовой задержки, вызываемой подвижным плечом интерферометра. Отмечено, что морфологический метод оценки когерентности излучения по картинам интерференции спекл-полей обладает высокой скоростью обработки и отличается простотой по сравнению с традиционно используемым методом измерения видности контраста интерференционных полос.