Методика измерения распределения коэффициента отражения по сферической выпуклой поверхности большой кривизны

Хоанг Лонг Тхань, Губанова Л.А., Кирилловский В.К., Терещенко И.Б., Нгуен Дык Тай

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Хоанг Л.Т., Губанова Л.А., Кирилловский В.К., Терещенко И.Б., Нгуен Д.Т. Методика измерения распределения коэффициента отражения по сферической выпуклой поверхности большой кривизны // Оптический журнал. 2019. Т. 86. № 4. С. 17–21. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-04-17-21

Hoang L.T., Gubanova L.A., Kirillovskiy V.K., Tereshchenko I.B., Nguyen D.T. Method for measuring the reflectance distribution over a spherical convex surface with large curvature [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2019. V. 86. № 4. P. 17–21. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-04-17-21

Ссылка на англоязычную версию:

T. L. Hoang, L. A. Gubanova, V. K. Kirillovskiĭ, I. B. Tereshchenko, and D. T. Nguyen, "Method for measuring the reflectance distribution over a spherical convex surface with large curvature," Journal of Optical Technology. 86(4), 209-212 (2019). https://doi.org/10.1364/JOT.86.000209

Аннотация:

В работе рассмотрен способ измерения коэффициента отражения по радиальным координатам выпуклой сферической поверхности оптической детали, имеющей большую кривизну. Представлены результаты измерения коэффициента отражения, как чистой поверхности, так и поверхности с просветляющим покрытием. Оценка полученных результатов показала, что максимальная относительная погрешность отклонения коэффициента отражения от теоретического расчёта не превышает 4,5%.

Ключевые слова:

оптические измерения, оптические покрытия, оптическая деталь большой кривизны, просветляющее покрытие

Благодарность:

Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ в рамках госзадания (тема № 3.2506.2017/4.6).

Коды OCIS: 120.5700, 310.1210

Список источников:

1. Yang S., Huang K., Chen C. et al. Wide-angle lens design // Classical Optics. 2014. Paper JTu5A.27.
2. Herzig H.P. Microoptics: elements, systems and applications. London: CRC Press, 1997. 370 р.

3. Ruediger G. Thin film microoptics: new frontiers of spatio-temporal beam shaping. Amsterdam: Elsevier Science, 2007. 306 p.
4. Dizem A., Richard A.S., Sung K. C. et al. Reflectance spectroscopy for diagnosis of epithelial precancer: model-based analysis of fiber-optic probe designs to resolve spectral information from epithelium and stroma // Appl. Opt. 2005. V. 44. № 20. P. 4291–4305.
5. Baumeister P.W. Optical coating technology. Washington: SPIE Press monograph, 2004. V. PM137. 840 p.
6. Macleod H.A. Thin-film optical filters. Boca Raton: CRC Press, 2010. 800 p.
7. Электронный ресурс. Режим доступа: http://www.essentoptics.com/f/file/LINZA150_rus_09112017.pdf
8. Gharghi M., Sivoththaman S. Design of anti-reflection coating for spherical silicon photovoltaic devices // Proc. of SPIE. 2008. V. 7045. P. 704509.
9. Гуревич М.М. Фотометрия (теория, методы и приборы). Л.: Энергоатомиздат, 1983. 269 c.
10. Сапожников Р.А. Теоретическая фотометрия. Л.: Энергия, 1977. 264 с.
11. Shenghao W., Shijie L., Jianda S. et al. Apparatus for measuring the uniformity of the optical transmittance of a semispherical surface at normal incidence // Appl. Opt. 2018. V. 57. № 13. P. 3395–3400.
12. Ландсберг Г.С. Оптика. Учеб. пособие: для вузов. М.: Физматлит, 2003. 848 с.
13. Никифоров С.Г. Измерительная лаборатория для комплексного исследования характеристик светодиодов, применяемых в системах отображения информации // Компоненты и технологии. 2007. № 7. C. 170.
14. Хоанг Т.Л., Губанова Л.А., Нгуен В.Б. Увеличение зоны просветления оптических деталей большой кривизны // Компьютерная оптика. 2017. Т. 41. № 6. С. 856.