DOI: 10.17586/1023-5086-2019-86-05-57-60
УДК: 617.7 535.34
Автоматизированная система поиска дефектов оптических деталей
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Бельков С.А., Воронич И.Н., Губкин А.С., Деркач В.Н., Деркач И.Н., Добиков А.В., Лащук В.О., Щеников В.А. Автоматизированная система поиска дефектов оптических деталей // Оптический журнал. 2019. Т. 86. № 5. С. 57–60. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-05-57-60
Belkov S.A., Voronich I.N., Gubkin A.S., Derkach V.N., Derkach I.N., Dobikov A.V., Lashchuk V.O., Shchenikov V.A. Automated system for finding flaws in optical components [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2019. V. 86. № 5. P. 57–60. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-05-57-60
S. A. Bel’kov, I. N. Voronich, A. S. Gubkin, V. N. Derkach, I. N. Derkach, A. V. Dobikov, V. O. Lashchuk, and V. A. Shchenikov, "Automated system for finding flaws in optical components," Journal of Optical Technology. 86(5), 306-309 (2019). https://doi.org/10.1364/JOT.86.000306
Наличие в стекле дефектов — пузырей, свилей и царапин, снижает оптическую прочность деталей и ведет к интенсивному рассеянию света и потерям энергии излучения, а также к возникновению амплитудных и фазовых искажений лазерного пучка, приводящих к развитию осцилляций интенсивности. Представленная система поиска дефектов оптических деталей работает в полуавтоматическом режиме и позволяет находить различные дефекты, а также определять их координаты и размеры. Характеристики системы: минимальный размер обнаруживаемого дефекта — 30 мкм, абсолютная погрешность определения его координат — 200 мкм, максимальная погрешность измерения размера — 10%. В процессе аттестации оптических деталей используются теневой или торцевой методы подсветки, в ряде случаев — их комбинация.
поиск дефектов, теневой метод, метод торцевой подсветки, пузырь, свиль
Коды OCIS: 220.4840, 120.4290
Список источников:1. Васильев Л.А. Теневые методы. М.: Наука, 1968. 400 с.
2. Малакара Д. Оптический производственный контроль. М.: Машиностроение, 1985. 400 с.
3. Rainer F. Mapping and inspection of damage and artifacts in large-scale optics // Proc. 29th Boulder Damage Symp., Intern. Soc. Opt. Eng., 1997. P. 272–281.
4. Prasad R.R., Bernacil M., Halpin J., at al. Design of an illumination technique to improve the identification of surface flaws on optics // Proc. 36th Boulder Damage Symp., Intern. Soc. Optics and Photonics, 2005. P. 421–426.