ITMO
en/ en

ISSN: 1023-5086

en/

ISSN: 1023-5086

Научно-технический

Оптический журнал

Полнотекстовый перевод журнала на английский язык издаётся Optica Publishing Group под названием “Journal of Optical Technology“

Подача статьи Подать статью
Больше информации Назад

DOI: 10.17586/1023-5086-2019-86-09-03-10

УДК: 535.015

Исследование комплексного влияния конструктивных и технологических параметров оптической системы для инфракрасной области спектра на фоновую облученность на приемнике

Ссылка для цитирования:

Правдивцев А.В. Исследование комплексного влияния конструктивных и технологических параметров оптической системы для инфракрасной области спектра на фоновую облученность на приемнике // Оптический журнал. 2019. Т. 86. № 9. С. 3–10. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-09-03-10

 

Pravdivtsev A.V. Combined effect of an IR optical system’s design and process parameters on the background irradiation on the detector [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2019. V. 86. № 9. P. 3–10. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2019-86-09-03-10

Ссылка на англоязычную версию:

A. V. Pravdivtsev, "Combined effect of an IR optical system’s design and process parameters on the background irradiation on the detector," Journal of Optical Technology. 86(9), 533-538 (2019). https://doi.org/10.1364/JOT.86.000533

Аннотация:

Рассмотрено влияние конструктивных и технологических параметров оптической системы на фоновую облученность на приемнике излучения инфракрасного диапазона. В качестве инструмента расчета фоновой облученности на фотоприемном устройстве применяется непоследовательная трассировка лучей. Метод был использован для многовариантного анализа системы с целью определения набора параметров, которые позволяют получить наименьший уровень внешнего и внутреннего фоновых потоков на приемнике. В качестве оптимизационных параметров выступали оптические свойства элементов объектива, конструктивные характеристики оправ, а также температура отдельных элементов системы. Определены оптимальные наборы параметров, обеспечивающие наименьший фоновый поток в различных условиях применения системы.

Ключевые слова:

инфракрасные оптические системы, фоновый поток, оптимизация конструкции

Коды OCIS: 220.4830, 110.3080

Список источников:

1. Макаренко А.В., Правдивцев А.В., Юдин А.Н. Метод оценивания внутреннего паразитного излучения оптических трактов инфракрасных систем // Электромагнитные волны и системы. 2009. № 12. С. 28–37.
2. Pravdivtsev A.V., Akram M.N. Simulation and assessment of stray light effects in infrared cameras using non-sequential ray tracing // Infrared Physics & Technology. 2013. V. 60. P. 306–311.
3. Правдивцев А.В. Анализ влияния конструкции оправ на величину теплового излучения оптических систем // Сб. докладов Междунар. конф. «Прикладная Оптика-2012». СПб., 2012. Т. 1. С. 230–234.
4. Макаренко А.В., Правдивцев А.В. Анализ влияния свойств поверхности оправ на величину теплового излучения оптических систем // Сб. докладов Междунар. конф. «Прикладная Оптика-2010». СПб., 2010. Т. 3. С. 208–212.
5. Fischer R.E., Tadic-Galeb B., Yoder P.R. Optical system design. Bellingham, WA: McGraw-Hill, 2008. 828 p.
6. Голубь Б.И., Пахомов И.И., Хорохоров А.М. Собственное излучение элементов оптических систем оптико-электронных приборов. М.: Машиностроение, 1978. 144 с.

7. Гайнутдинов И.С., Шувалов Н.Ю., Сабиров Р.С. и др. Просветляющие покрытия на подложках из германия и кремния в окнах прозрачности ИК области спектра 3–5 и 8–12 мкм // Оптический журнал. 2009. Т. 76. № 5. С. 68–72.
8. Кузнечик О.П., Захарич М.П. Статистические характеристики яркости неба в области 0,5–12 мкм // Деп. ВИНИТИ № 2495 от 14.03.1980.
9. The infrared and electro-optical systems: handbook / Ed. by Zissis G.J. V. 1. Sources of Radiation. Bellingham, WA: SPIE, 1993. 383 p.
10. Mahulikar S.P., Potnuru S.K., Rao G.A. Study of sunshine, skyshine, and earthshine for aircraft infrared detection // J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2009. V. 11. P. 045703.
11. Snail K.A., Brown D.P., Costantino J.P. Optical characterization of black appliques // Ed. by Glassford A.P.M., Breault R.P., Pompea S.M. / Proc. SPIE. 1996. V. 2864. P. 465–474.
12. Miller J.L. Multispectral infrared bidirectional reflectance distribution function forward-scatter measurements of common infrared black surface preparations and materials // Opt. Eng. 2006. V. 45. P. 056401.
13. Попов Г.Н., Голубев П.Г., Мордвин Н.Н. Возможность обнаружения и подавления оптико-электронных средств // Прикладная физика. 2007. № 2. С. 124–127.