en
Назад
DOI: 10.17586/1023-5086-2020-87-01-56-61
УДК: 535.323, 535.345.673
Оптические и структурные свойства пленок ZnS0,5Se0,5 и интерференционные фильтры на их основе
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Котликов Е.Н., Тропин А.Н. Оптические и структурные свойства пленок ZnS0,5Se0,5 и интерференционные фильтры на их основе // Оптический журнал. 2020. Т. 87. № 1. С. 56–61. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2020-87-01-56-61
Kotlikov E.N., Tropin A.N. Optical and structural properties of ZnS0.5Se0.5 films and interference filters based on them [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2020. V. 87. № 1. P. 56–61. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2020-87-01-56-61
E. N. Kotlikov and A. N. Tropin, "Optical and structural properties of ZnS0.5Se0.5 films and interference filters based on them," Journal of Optical Technology. 87(1), 45-49 (2020). https://doi.org/10.1364/JOT.87.000045
Исследованы структурные и оптические свойства тонких пленок твердого раствора ZnS0,5Se0,5, используемых для создания многослойных интерференционных покрытий, работающих в ближней и средней инфракрасных областях спектра. Методом рентгеноструктурного анализа исследованы структурные особенности и фазовый состав исходного пленкообразующего материала и пленок, полученных термическим испарением в вакууме, на подложках из боросиликатного стекла, монокристаллов германия и кремния. Рассчитаны дисперсионные зависимости оптических констант по данным спектрофотометрических измерений исследованных пленок в спектральном диапазоне от 2 до 25 мкм. Представлены результаты проектирования и изготовления инфракрасных интерференционных фильтров с использованием исследованных пленок: полосового фильтра с пропусканием в диапазоне длин волн от 8 до 12 мкм и узкополосного фильтра с максимумом пропускания на длине волны 10,56 мкм и полушириной 140 нм.
оптические пленки, инфракрасный спектр, селенид цинка, сульфид цинка, твердый раствор, фазовый состав, оптические константы, интерференционный фильтр
Коды OCIS: 160.4670, 310.1620
Список источников:1. Kotlikov E.N., Ivanov V.A., Tropin A.N. Film’s forming materials for THz spectral range purposes // Progress in Electromagnetics. Research Symp. PIERS 2010 in Cambridge, USA. 2010. Draft abstracts. P. 88.
2. Hawkins G., Sherwood R., Djotni K. Mid-infrared filters for astronomical and remote sensing instrumentation // Advances in Optical Thin Films III. Proc. SPIE. 2008. V. 7101. P. 710114-1–710114-15.
3. Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г. Современное состояние и перспективы развития зарубежных тепловизионных систем // Научно-техн. вестник информационных технологий, механики и оптики. 2013. № 3(85). C. 1–13.
4. Котликов Е.Н., Иванов В.А., Прокашев В.Н. и др. Исследование оптических свойств пленок германия в средней ИК области спектра // Опт. спектр. 2010. Т. 108. № 6. С. 1003–1006.
5. Тропин А.Н. Пленкообразующие материалы для тонкослойных оптических покрытий: новые задачи и перспективы (обзор) // Успехи прикладной физики. 2016. Т. 4. № 2. С. 206–211.
6. Netterfield R.P. Refractive indices of zinc sulfide and criolite in multilayer stacks // Appl. Opt. 1976. V. 15 № 8. P. 1969–1973.
7. Castiblanco R., Vargas J., Morales J., et al. Determination of the optical properties of ZnSe thin films using the transfer matrix method // J. Phys.: Conf. Series. 2014. V. 480. P. 012025-1–6.
8. Chin T.N., O’Neill O.B., Houser P.E. Growth and structure of electron-beam evaporated ZnS films // Application of Surface Sci. 1982. № 11/12. P. 553–562.
9. Томашик В.Н., Грыцив В.И. Диаграммы состояния систем на основе полупроводниковых соединений AIIBVI. Справочник. Киев: Наукова думка, 1982. 168 с.
10. Котликов Е.Н. Спектрофотометрический метод определения оптических констант материалов // Оптический журнал. 2016. Т. 83. № 2. C. 61–67.
11. Котликов Е.Н., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант поглощающих пленок. Подложки без поглощения // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 1. С. 59–64.
12. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А., Юрковец Е.В. Метод определения оптических констант пленок на поглощающих подложках // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 10. С. 64–69.