DOI: 10.17586/1023-5086-2022-89-03-89-99
УДК: 535.417
Цифровая голографическая система послойного контроля качества детали аддитивного производства
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Сементин В.В., Погода А.П., Петров В.М., Хахалин И.С., Попов Е.Э., Истомина Н.Л., Борейшо А.С. Цифровая голографическая система послойного контроля качества детали аддитивного производства // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 3. С. 89–99. http://doi.org/ 10.17586/1023-5086-2022-89-03-89-99
Sementin V.V., Pogoda A.P., Petrov V.M., Khakhalin I.S., Popov E.E., Istomina N.L., Boreisho A.S. Digital holographic system for layer-by-layer control of additively manufactured component quality [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2022. V. 89. № 3. P. 89–99. http://doi.org/ 10.17586/1023-5086-2022-89-03-89-99
V. V. Sementin, A. P. Pogoda, V. M. Petrov, I. S. Khakhalin, E. E. Popov, N. L. Istomina, and A. S. Boreisho, "Digital holographic system for layer-by-layer control of additively manufactured component quality," Journal of Optical Technology. 89(3), 183-190 (2022). https://doi.org/10.1364/JOT.89.000183
Предмет исследования. Проведено исследование цифровой голографической системы послойного контроля качества детали в аддитивном производстве, которая определяет размеры и глубину дефектов на поверхности каждого слоя. Метод. Цифровая голографическая система послойного контроля качества детали в аддитивном производстве работает на основе метода двухдлинноволновой голографической интерферометрии. Цифровая голографическая система основана на интерферометре Майкельсона. Рассматриваемый метод заключается в записи голограмм поверхности каждого слоя детали на двух близких длинах волн. В результате восстановления голограмм определяются комплексные амплитуды объектной волны в плоскости восстановления, которые, в свою очередь, определяют фазы волн и их разность. Разность фаз волн позволяет определить информацию о глубине дефекта поверхности слоя детали. В качестве источника излучения используется перестраиваемый диодный лазер, а в качестве приемника — камера на основе матрицы ПЗС. Основные результаты. Представлены результаты исследования поверхностей деталей аддитивного производства с использованием метода двухдлинноволновой голографической интерферометрии. При этом имеется возможность распознавания больших по размеру неоднородностей с помощью развертывания фазовой картины. Продемонстрирована возможность регистрации дефектов поверхности размером 25 мкм. Представлены восстановленная поверхность детали, изготовленной методом лазерного спекания последовательно каждого слоя на аддитивной установке селективного лазерного сплавления М250, и восстановленная поверхность макроскопического объекта миллиметрового масштаба. Практическая значимость. Показана возможность применения цифровой голографической системы контроля качества детали в промышленности, в частности, аддитивных технологиях. Критерий качества детали — это отсутствие дефектов (каверн, выступов) размером 25 мкм и более.
двухдлинноволновая цифровая интерферометрия, LiSrAlF6Cr3+, цифровая голография, разрешающая способность, развертывание фазы
Благодарность:Работа выполнена в ФГБОУ ВО БГТУ «Военмех» им. Д. Ф. Устинова при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации (доп. соглашение от 09.06.2020№ 075-03-2020-045/2 на выполнение базовой части государственного задания «Разработка фундаментальных основ создания и управления группировками высокоскоростных беспилотных аппаратов космического и воздушного базирования и группами робототехнических комплексов наземного базирования»).
Коды OCIS: 090.1995, 090.2880, 090.5694, 100.5088
Список источников:1. Duda T. 3D metal printing technology // IFAC-PapersOnLine. 2016. V. 49. № 29. P. 103–110.
2. Plessus A. Effects of defects on mechanical properties in metal additive manufacturing: A review focusing on X-ray tomography insights // Materials & Design. 2019. V. 187. P. 108385.
3. Tahara T. Digital holography and its multidimensional imaging applications: A review // Microscopy. 2018. V. 67. № 2. P. 55–67.
4. Гусев М.Е. Методы цифровой голографической интерферометрии и их применение для измерения наноперемещений // Наносистемы: физика, химия, математика. 2011. Т. 2. № 1. С. 23–39.
5. Khoo T.C. Dual wavelength digital holographic imaging of layered structures // Opt. Commun. 2019. V. 458. № 7. P. 124793.
6. Kühn J. Real-time dual-wavelength digital holographic microscopy with a single hologram acquisition // Opt. Exp. 2007. V. 15. № 12. P. 7231–7242.
7. Ifflander R. Solid-state lasers for materials processing. Schramberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2001. 400 p.
8. Гендин В.Г. Цифровая голографическая микроскопия: современные методы регистрации голограмм микрообъектов // Научно-техн. Вест. информационных технологий, механики и оптики. 2012. Т. 3. № 79. С. 19–27.
9. Xu J. Digital domain dynamic path accumulation method to compensate for image vibration distortion for CMOS-time-delay-integration image sensor // Opt. Eng. 2020. V. 59. № 10. P. 103101.
10. Кузнецов Р.А. Разработка системы неразрушающего контроля на основе методов цифровой голографической интерферометрии // Автореф. канд. дис. Новосибирск: НГТУ, 2013. 117 с.
11. Liu C. Elimination of zero-order diffraction in digital holography // Opt. Eng. 2002. V. 41. P. 2434–2437.
12. Martinez-Carranza J. Fast and accurate phase-unwrapping algorithm based on the transport of intensity equation // Appl. Opt. 2017. V. 56. № 25. P. 7079–7088.
13. Popov E.E. Lamp pumped LiSrAlF6:Cr laser with Bragg grating // J. Phys.: Conf. Series. IOP Publishing. 2019. V. 1399. № 2. P. 022030.
14. Петров В.М. LiSrAlF6:Cr лазер с решеткой Брэгга: перестройка и генерация двух длин волн // Тез. докл. XVIII Междунар. конф. «HOLOEXPO 2021». Геленджик, 2021. С. 77–82.
15. El-Schich Z. Holography: The usefulness of digital holographic microscopy for clinical diagnostics // Holographic materials and optical systems / ed. by Intech. 2017. P. 319–333.
16. Claus D. High-resolution digital holography utilized by the subpixel sampling method // Appl. Opt. 2011. V. 50. № 24. P. 4711–4719.