Назад
Тойкка
Андрей
Сергеевич
| Место работы |
| АО «НПО Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова», Санкт-Петербург, Россия |
| Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия |
| Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова Национального исследовательского центра «Курчатовский институт», г. Гатчина Ленинградской области, Россия |
|
E-mail: atoikka@obraz.pro
Статьи
|
Ильин М.Е., Тойкка А.С., Воробьев М.Г., Каманина Н.В. Эллипсометрия тонких плёнок стандартного и восстановленного оксида графена // Оптический журнал. 2026. Т. 93. № 2. С. 88–95. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2026-93-02-88-95
Ilin M.E., Toikka A.S., Vorobev M.G., Kamanina N.V. Ellipsometry of standard and reduced graphene oxide thin films [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2026. V. 93. № 2. P. 88–95. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2026-93-02-88-95
|
Аннотация
|
|
Тойкка А.С., Ломова Л.С., Каманина Н.В. Влияние наночастиц WS2 на рефрактивные свойства жидкокристаллических композиций // Оптический журнал. 2021. Т. 88. № 8. С. 75–80. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2021-88-08-75-80
Toikka A.S., Lomova L.S., Kamanina N.V. Effect of WS2 nanoparticles on the refractive properties of liquid crystal compositions [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2021. V. 88. № 8. P. 75–80. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2021-88-08-75-80
|
Аннотация
|
en