УДК: 621.382
Применение методов эллипсометрии к исследованию адсорбированных слоев молекул
Полный текст «Оптического журнала»
Публикация в Journal of Optical Technology
Асалханов Ю.И., Санеев Э.Л., Дарибазарон Э.Ч., Чагдурова Е.С. Применение методов эллипсометрии к исследованию адсорбированных слоев молекул // Оптический журнал. 2005. Т.72. №2 С. 3-7.
Asalkhanov Yu. I., Saneev É. L., Daribazaron É. Ch., Chagdurova E. S. Using ellipsometric methods to study adsorbed layers of molecules [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2005. V. 72. No 2. P. 3-7.
Asalkhanov Yu. I., Saneev É. L., Daribazaron É. Ch., Chagdurova E. S. Using ellipsometric methods to study adsorbed layers of molecules // Journal of Optical Technology. 2005. V. 72. № 1. P. 1-9. https://doi.org/10.1364/JOT.72.000163
Зарегистрировано изменение состояния поляризации света, отраженного от монокристаллов Si (111) при нарушении равновесного состояния адсорбированных на их поверхностях молекул. При импульсном освещении светом ртутной лампы образцов, находящихся в вакууме, время возвращения адсорбированного слоя в равновесное состояние составляет несколько минут.
Коды OCIS: 260.0260, 260.2130, 240.0240.