Оптический журнал. 2005. Т. 72. № 2.

Физическая оптика

Асалханов Ю.И., Санеев Э.Л., Дарибазарон Э.Ч., Чагдурова Е.С.

Применение методов эллипсометрии к исследованию адсорбированных слоев молекул

Емельяненко Ю.С., Малышев С.А., Покрышкин А.И.

Зависимость фотолюминесценции субмикронных эпитаксиальных n+-n-i-структур A3B5 от их электрофизических характеристик

Кокорин А.М.

Влияние влажности воздуха на показатель и коэффициент асимметрии индикатрисы рассеяния света радиально-неоднородными частицами аэрозоля в пограничном слое над морем

Расчёт, проектирование и производство оптических систем и их элементов

Грамматин А.П., Демидова Е.А.

Аберрационные свойства оптических систем, состоящих из конфокальных поверхностей

Бахолдин А.В., Зверев В.А., Романова Г.Э.

Оптическая система высокоапертурного телескопа

Волкова М.А., Златина С.В., Коган Л.М., Натаровский С.Н., Немкова О.Н., Папченко Б.П., Селезнева Т.Ф., Скобелева Н.Б., Фролов Д.Н.

Перспективы использования светодиодов в осветительных устройствах микроскопов

Бугаев Ю.Н., Ильинский Р.Е.

Распределение освещенности, формируемое световым пучком, отраженным от плоского световозвращающего покрытия

Голография

Семенов Г.Б., Аристов А.К., Варнаев А.В., Гроздилов В.М., Жевлаков А.П., Щедрунова Т.В.

Получение голограммных фильтров в УФ диапазоне спектра 320-430 нм

Павлов А.В.

Реализация модели линейного предсказателя методом фурье-голографии

Тишко Т.В., Титарь В.П., Тишко Д.Н.

Голографические методы трехмерной визуализации фазовых микрообъектов

Оптическое материаловедение и технологии

Вандюков Е.А., Саттаров Ф.А., Знаменский М.Ю., Филиппов В.Л., Лукин А.В., Вандюкова И.И., Соболев А.П.

Природа фотостимулированных процессов в слоях Аs2Sе3, используемых при изготовлении элементов дифракционной оптики

Каплунов И.А., Смирнов Ю.М., Колесников А.И.

Оптическая прозрачность кристаллического германия

Письма в редакцию

Пикуль О.Ю., Рудой К.А., Ливашвили А.И., Доронин В.И., Строганов В.И.

Спиралевидная структура в коноскопических фигурах оптически активных кристаллов

Мурый А.А., Сенин П.В., Строганов В.И., Доронин В.И.

Особенности отражения оптических лучей от плоскопараллельной кристаллической пластинки

Бакрадзе О.И.

Эллипсометрический метод измерения параметров тонких магнитных пленок