УДК: 535.32
Интерференционные покрытия с заданным показателем преломления на основе нанослоев диэлектриков
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Губанова Л.А., Путилин Э.С. Интерференционные покрытия с заданным показателем преломления на основе нанослоев диэлектриков // Оптический журнал. 2012. Т. 79. № 2. С. 59–66.
Gubanova, L. A.; Putilin, É. S. Interference coatings with a specified refractive index based on dielectric nanolayers // Opticheskii Zhurnal. 2012. V. 79. № 2. P. 59–66.
L. A. Gubanova and É. S. Putilin, "Interference coatings with a specified refractive index based on dielectric nanolayers," Journal of Optical Technology. 79(2), 102-107 (2012). https://doi.org/10.1364/JOT.79.000102
Исследована возможность создания четвертьволновых пленок с заданным показателем преломления с использованием нанослоев. Такие системы позволяют расширить класс используемых пленкообразующих материалов. Рассмотрена возможность создания просветляющих покрытий, один или несколько слоев которых образованы набором симметричных систем нанослоев. Симметричные системы нанослоев состоят из двух диэлектриков с различными показателями преломления. Достоинство таких покрытий заключается в том, что на их основе могут быть изготовлены четвертьволновые просветляющие покрытия, имеющие широкую область минимального отражения, ранее не реализовавшиеся из-за отсутствия пленкообразующих материалов с необходимыми показателями преломления.
нанослои, просветляющие покрытия, оптическая толщина, показатель преломления
Коды OCIS: 310.0310
Список источников:2. Телен А. Конструирование многослойных интерференционных светофильтров / Физика тонких пленок. Т. 5 / Под ред. Г. Хасса и Р.Э. Туна. М.: Мир, 1972. С. 46–83.
3. Бернинг П.Х. Теория и методы расчета оптических свойств тонких пленок. Физика тонких пленок / Под ред. Г. Хасса. М.: Мир, 1967. Т. 1. С. 91–151.
4. Кокс Дж.Т., Хасс Г. Просветляющие покрытия для видимой и инфракрасной областей спектра / Под ред. Г. Хасса. М.: Мир, 1967. Т. 2. С. 186–253.