Простой интерферометр сдвига с регулировкой фазы на основе толстой двулучепреломляющей пластины

Gu Shuaiyan, Liu Lei, Hu Shiyu, Zeng Aijun, Zhu Linglin, Huang Huijie

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Shuaiyan Gu, Lei Liu, Shiyu Hu, Aijun Zeng, Linglin Zhu, Huijie Huang Simple phase shifting lateral shearing interferometer based on thick birefringent plate (Простой интерферометр сдвига с регулировкой фазы на основе толстой двулучепреломляющей пластины) [на англ. яз.] // Оптический журнал. 2017. Т. 84. № 4. С. 50–54.

Shuaiyan Gu, Lei Liu, Shiyu Hu, Aijun Zeng, Linglin Zhu, Huijie Huang Simple phase shifting lateral shearing interferometer based on thick birefringent plate (Простой интерферометр сдвига с регулировкой фазы на основе толстой двулучепреломляющей пластины) [in English] // Opticheskii Zhurnal. 2017. V. 84. № 4. P. 50–54.

Ссылка на англоязычную версию:

Shuaiyan Gu, Lei Liu, Shiyu Hu, Aijun Zeng, Linglin Zhu, and Huijie Huang, "Simple phase shifting lateral shearing interferometer based on a thick birefringent plate," Journal of Optical Technology. 84(4), 260-264 (2017). https://doi.org/10.1364/JOT.84.000260

Аннотация:

Предложен простой интерферометр сдвига на основе толстой двулучепреломляющей пластины, позволяющий обеспечить переменный фазовый сдвиг между интерферирующими пучками. Интерферометр содержит толстую двулучепреломляющую пластину и поляризатор. Толстая двулучепреломляющая пластина служит как устройство пространственного разведения пучков и получения сдвига фазы между ними. Как разность оптических путей между отдельными пучками, так и их пространственное разделение зависят от угла падения исходного пучка на пластину. При этом в некотором диапазоне углов падения пространственное разделение остаётся почти неизменным, а разность оптических путей изменяется линейно от угла. Таким образом, разность фаз может регулироваться поворотом двулучепреломляющей пластины. Устройство очень просто по конструкции, подходит для контроля пучков небольшого сечения, причём эквидистантный фазовый сдвиг достигается при одинаковых изменениях угла падения. Полезность интерферометра продемонстрирована как численным моделированием, так и экспериментально.

Ключевые слова:

интерферометр, двулучепреломляющая пластина, поляризатор, фазосдвигающее устройство

Благодарность:

Работа выполнена при финансовой поддержке Национального научно-технологического проекта Китая (грант № 2011ZX02402) и Программ международного сотрудничества Китая в области науки и технологий (гранты №№ 2011DFR10010, 2012DFG51590).

Коды OCIS: 260.3160, 260.1440, 260.5430

Список источников:

1. Li R.J., Fan K.C., Miao J.W., Huang Q.X., Tao S., Gong E.M. An analogue contact probe using a compact 3D optical sensor for micro/nano coordinate measuring machines // Measurement Science and Technology. 2014. V. 25. ¹ 9. P. 1–33.
2. Wang Y., Zhai H., Jutamulia S., Mu G. Collimation test of a corrected laser diode beam using lateral shearing interferometer // Optics Communications. 2007. V. 274. P. 412–416.
3. Hariharan P. Interferometric testing of optical surfaces: Absolute measurements of flatness // Optical Engineering. 1997. V. 36. P. 2478–2481.
4. Smirnova O., Mairesse Y., Patchkovskii S., Dudovich N., Villeneuve D., Corkum P., Ivanov M.Y. High harmonic interferometry of multielectron dynamics in molecules // Nature. 2009. V. 460. P. 972–977.
5. Toto-Arellano N.I., Serrano-Garcia D.I., Martinez-Garcia A. Parallel two-step phase shifting interferometry using a double cyclic shear interferometer // Optics Express. 2013. V. 21. P. 31983–31989.
6. Katkovnik V., Bioucas-Dias J. Wavefront reconstruction in phase-shifting interferometry via sparse coding of amplitude and absolute phase // Journal of the Optical Society of America a-Optics Image Science and Vision. 2014. V. 31. P. 1801–1810.
7. Liu L., Zeng A., Zhu L., Huang H. Lateral shearing interferometer with variable shearing for measurement of a small beam // Optics Letters. 2014. V. 39. P. 1992–1995.
8. Mihaylova E., Whelan M., Toal V. Simple phase-shifting lateral shearing interferometer // Optics Letters. 2004. V. 29. P. 1264–1266.
9. Yatagai T., Kanou T. Aspherical surface testing with shearing interferometer using fringe scanning detection method // Optical Engineering. 1984. V. 23. P. 357–360.
10. Sickinger H., Falkenstorfer O., Lindlein N., Schwider J. Characterization of microlenses using a phase-shifting shearing interferometer // Optical Engineering. 1994. V. 33. P. 2680–2686.
11. Griffin D.W. Phase-shifting shearing interferometer // Optics Letters. 2001. V. 26. P. 140–141.
12. Mehta D.S., Inam M., Prakash J., Biradar A.M. Liquid-crystal phase-shifting lateral shearing interferometer with improved fringe contrast for 3D surface profilometry // Applied Optics. 2013. V. 52. P. 6119–6125.
13. Ferrari J.A., Frins E.M., Perciante U.D. A new scheme for phase-shifting ESPI using polarized light // Optics Communications. 2002. V. 202. P. 233–237.
14. Sarkar S., Bhattacharya K. Polarization phase shifting cyclic interferometer for surface profilometry of non-birefringent phase samples // Journal of Modern Optics. 2013. V. 60. P. 185–189.
15. Song J.B., Lee Y.W., Lee I.W., Lee Y.H. Simple phase-shifting method in a wedge-plate lateral-shearing interferometer // Applied Optics. 2004. V. 43 P. 3989–3992.