Определение слоя, входящего в состав интерференционного покрытия, максимально влияющего на соответствие спектральной характеристики коэффициента отражения изготовленного покрытия синтезированному

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Нго Тхай Фи, Фам Ван Хоа, Губанова Л.А. Определение слоя, входящего в состав интерференционного покрытия, максимально влияющего на соответствие спектральной характеристики коэффициента отражения изготовленного покрытия синтезированному // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 3. С. 72–76. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-03-72-76

Ngo Thai Phi, Pham Van Khoa, Gubanova L.A. Determination of the layer included in an interference coating that maximally influences correspondence of the spectral reflectance curve of the fabricated coating to the synthesized coating reflectance [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2018. V. 85. № 3. P. 72–76. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-03-72-76

Ссылка на англоязычную версию:

Ngo Thai Phi, Pham Van Khoa, and L. A. Gubanova, "Determination of the layer included in an interference coating that maximally influences correspondence of the spectral reflectance curve of the fabricated coating to the synthesized coating reflectance," Journal of Optical Technology. 85(3), 182-185 (2018). https://doi.org/10.1364/JOT.85.000182

Аннотация:

Проведен анализ влияния возникающих в процессе изготовления отличий оптической толщины слоев, входящих в структуру интерференционного покрытия, от расчетных на спектральные характеристики его коэффициента отражения. Рассмотрен интегральный метод поиска слоя, максимально влияющего на стабильность спектральной характеристики коэффициента отражения покрытия. Полученные в работе результаты выявили связь любого слоя, имеющего отклонения оптической толщины от расчетной, со спектральной характеристикой коэффициента отражения интерференционного покрытия.

Ключевые слова:

интерференционные покрытия, просветляющие покрытия, устойчивость интерференционных покрытий, отклонение параметров слоев

Благодарность:

Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации (Проект 16.1651.2017/4.6)

Коды OCIS: 310.6805, 140.3460

Список источников:

1. Губанова Л.А., Путилин Э.С. Оптические покрытия. Учебник для вузов. СПб.: Лань, 2016. 286 с.
2. Macleod Н.A. Thin-film optical filter. N.Y.: McGraw, 2010. 772 p.
3. Dobrowolski J.A. Optical properties of films and coating. V. 1. N.Y.: McGraw, 1995. Р. 42.
4. Балышев К.В., Путилин Э.С., Старовойтов С.Ф. Исследование воспроизводимости выходных параметров многослойных диэлектрических систем во время изготовления // Оптический журнал. 1998. Т. 65. № 3. С. 39–43.
5. Котликов Е.Н., Тропин А.Н. Критерий устойчивости спектральных характеристик многослойных интерференционных покрытий // Оптический журнал. 2009. Т. 76. № 3. С. 60–64.
6. Котликов Е.Н., Иванов В.А., Моцарь Е.В., Новикова Ю.А., Тропин А.Н. Анализ устойчивости спектральных характеристик многослойных оптических покрытий // Опт. спектр. 2011. Т. 111. № 3. С. 515–520.
7. Котликов Е.Н., Новикова Ю.А. Сравнительный анализ критериев устойчивости интерференционных покрытий // Оптический журнал. 2013. Т. 80. № 9. С. 61–67.
8. Тихонравов А.В., Грищина Н.В. Современные подходы к проектированию многослойных оптических покрытий // Компьютерная оптика. 1992. № 4. C. 3–48.
9. Kestelman H. Riemann integration. N.Y.: Dover, 1960. P. 33–66.
10. Приближенное вычисление определенных интегралов. Методические указания к ЛР-6. Курск, 2011. C. 13.