-

Галкин А.А., Кравченко В.И., Савенков С.Н., Вербицкий В.П., Оберемок Е.А. Исследование параметров анизотропии полимерных многослойных пленок и идентификация шероховатости их поверхности с помощью детерминированных матриц Мюллера // Оптический журнал. 2004. Т.71. №5 С. 67-71.

Galkin A.A., Kravchenko V.I., Savenkov S.N., Verbitskii V.P., Oberemok E.A. Study of the anisotropy parameters of multilayer polymeric films and identification of their surface roughness by means of determinate Mueller matrices [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2004. V. 71. No 5. P. 67-71.

Galkin A.A., Kravchenko V.I., Verbitskii V.P., Savenkov S.N., Oberemok E.A. Study of the anisotropy parameters of multilayer polymeric films and identification of their surface roughness by means of determinate Mueller matrices // Journal of Optical Technology. 2004. V. 71. № 5. P. 322-326. https://doi.org/10.1364/JOT.71.000322