Back
Dobrovolskyi,
Peter
P.
PhD (Physics and Mathematics)
| Affiliation |
| Branch of Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of Siberian Branch of RAS "Technological Institute of Applied Microelectronics", Novosibirsk, Russia |
|
E-mail: porfir@ngs.ru
ScopusID: 57222759747
ORCID: 0009-0000-3705-4561
Articles
|
Алдохин П.А., Новоселов А.Р., Хрящёв С.В., Добровольский П.П., Шатунов К.П. Исследования разными методами уровня внутреннего фона инфракрасного излучения на фотоприёмнике в криостате // Оптический журнал. 2024. Т. 91. № 2. С. 122–130. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2024-91-02-122-130
Aldochin P.A., Novoselov A.R., Khryashchev S.V., Dobrovolsky P.P., Shatunov K.P. Studies of the level of the internal background of infrared radiation on a photodetector in a cryostat [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2024. V. 91. № 2. P. 122–130. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2024-91-02-122-130
|
Abstract
|
|
Новоселов А.Р., Алдохин П.А., Добровольский П.П., Маточкин А.Е. Исследование разрушения гибридных фотоприемников инфракрасного диапазона при многократных циклах охлаждения до температуры жидкого азота интерференционным методом // Оптический журнал. 2021. Т. 88. № 1. С. 69–75. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2021-88-01-69-75
Novoselov A.R., Aldokhin P.A., Dobrovolskii P.P., Matochkin A.E. Investigation of the damage to hybrid infrared photodetectors upon multiple cycles of cooling to liquid-nitrogen temperatures using an interference technique [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2021. V. 88. № 1. P. 69–75. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2021-88-01-69-75
|
Abstract
|
ru