-

Вольпян О.Д., Яковлев П.П. Определение параметров тонких оптических пленок спектрофотометрическим методом // Оптический журнал. 2004. Т.71. №12 С. 54-56.

Vol'pyan O. D., Yakovlev P. P. Determining the parameters of optical thin films by a spectrophotometric method // Journal of Optical Technology. 2004. V. 71. № 12. P. 847-848. https://doi.org/10.1364/JOT.71.000847