Вольпян О.Д., Яковлев П.П. Определение параметров тонких оптических пленок спектрофотометрическим методом // Оптический журнал. 2004. Т.71. №12 С. 54-56.
Вольпян О.Д., Обод Ю.А., Яковлев П.П. Исследование оптических пленок SіO2 полученных реактивным магнетронным распылением на переменном токе // Оптический журнал. 2004. Т.71. №7 С. 81-84.
Vol'pyan O.D., Obod Yu.A., Yakovlev P.P. Investigation of SiO2 optical films produced by reactive ac magnetron sputtering [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2004. V. 71. No 7. P. 81-84.