Alievskiy, V. M.

Кадушников Р.М., Алиевский В.М., Сомина С.В., Козерчук А.Л., Петров М.С. Цифровая микроскопия от нано до макро с использованием системы анализа изображений SIAMS // Оптический журнал. 2011. Т. 78. № 1. С. 77–82.

Kadushnikov R.M., Alievskiy V.M., Somina S.V., Kozerchuk A.L., Petrov M.S. Digital microscopy from nano to macro, using the SIAMS image-analysis system [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2011. V. 78. № 1. P. 77–82.