Back
Khryashchev,
Sergey
V.
| Affiliation |
| Branch of Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of Siberian Branch of RAS "Technological Institute of Applied Microelectronics", Novosibirsk, Russia |
|
E-mail: xzabc@ya.ru
ScopusID: 57208176263
ORCID: 0009-0004-9884-9746
Articles
|
Алдохин П.А., Новоселов А.Р., Хрящёв С.В., Добровольский П.П., Шатунов К.П. Исследования разными методами уровня внутреннего фона инфракрасного излучения на фотоприёмнике в криостате // Оптический журнал. 2024. Т. 91. № 2. С. 122–130. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2024-91-02-122-130
Aldochin P.A., Novoselov A.R., Khryashchev S.V., Dobrovolsky P.P., Shatunov K.P. Studies of the level of the internal background of infrared radiation on a photodetector in a cryostat [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2024. V. 91. № 2. P. 122–130. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2024-91-02-122-130
|
Abstract
|
ru