Шероховатость поверхности и скорость снятия материала при магнитореологической доводке без подповерхностных повреждений поверхности

Cheng H.B., Feng Z.J., Wang Y.W. Шероховатость поверхности и скорость снятия материала при магнитореологической доводке без подповерхностных повреждений поверхности // Оптический журнал. 2005. Т.72. №11 С. 70-77.

Cheng H.B., Feng Z.J., Wang Y.W. Surface roughness and material-removal rate with magnetorheological finishing without subsurface damage of the surface [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2005. V. 72. No 11. P. 70-77.

Cheng H.B., Feng Z.J., Wang Y.W. Surface roughness and material-removal rate with magnetorheological finishing without subsurface damage of the surface // Journal of Optical Technology. 2005. V. 72. № 11. P. 865-871. https://doi.org/10.1364/JOT.72.000865

Описана новая технологическая методика, так называемая магнитореологическая доводка (МРД), основанная на компьютерно-управляемой обработке оптических поверхностей, которая сочетает в себе особенности обычной обработки несвязанным абразивом с характеристиками, задаваемыми полировальным кругом и намагничиванием. На основе теоретических предпосылок разработаны и проведены эксперименты по определению скорости снятия материала на параболическом зеркале с целью выяснения влияния контролируемых параметров: величины зазора между обрабатываемым изделием и полировальным кругом, скорости вращения полировального круга, объемной концентрации фракции немагнитных частиц и времени полирования. Выполнены эксперименты по изучению микроструктуры поверхности обрабатываемого изделия и конечной шероховатости поверхности, доведенной от начальной среднеквадратичной величины 10,98 до 1,22 нм после 20-минутной МРД, что свидетельствует о быстром выходе на наноразмерный уровень. Отсутствие подповерхностных повреждений полированной поверхности подтверждает практическую целесообразность методики МРД.