en
Назад
УДК: 535.421
Спектры пропускания и отражения слоистой анизотропной среды с хаотической ориентацией оптических осей ее элементов
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Симоненко Г.В., Моренко Р.А., Тучин В.В. Спектры пропускания и отражения слоистой анизотропной среды с хаотической ориентацией оптических осей ее элементов // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 9. С. 16–19.
Simonenko G.V., Morenko R.A., Tuchin V.V. Transmission and reflection spectra of a layered anisotropic medium with random orientation of the optic axes of its elements [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2007. V. 74. № 9. P. 16–19.
G. V. Simonenko, R. A. Morenko, and V. V. Tuchin, "Transmission and reflection spectra of a layered anisotropic medium with random orientation of the optic axes of its elements," Journal of Optical Technology. 74 (9), 589-591 (2007). https://doi.org/10.1364/JOT.74.000589
Методом компьютерного моделирования проведено исследование оптических характеристик слоистой анизотропной среды со случайной ориентацией оптических осей структурных элементов. Показано существование областей селективного отражения такой среды при определенном наборе физических параметров образца.
Коды OCIS: 050.1970
Список источников:1. Де Жен П. Жидкие кристаллы. М.: Мир, 1981. 312 с.
2. Berreman D.W. Optics in stratified and anisotropic media: 4Ч4 matrix formulation // JOSA. 1972. V. 62. P. 502-510.
3. Сухариер А.С., Симоненко Г.В., Куйбарова В.А. Влияние параметров поляроидов на электрооптические характеристики и параметры ЖКИ на твист-эффекте // Электронная техника. Сер. 4. Электровакуумные и газоразрядные приборы. 1989. В. 4(127). С. 28-30.
4. Ярив А., Юх П. Оптические волны в кристаллах. М.: Мир, 1987. 616 с.
5. Chigrinov V., Kwok H.S., Yakovlev D., Simonenko G., Tsoy V. LCD optimization and modeling // J. Soc. Inf. Display. 2004. V. 12. P. 183-187.
6. Chigrinov V., Podyachev Yu., Simonenko G., Yakovlev D. The Optimization of LCD electrooptical behavior using MOUSE - LCD software // Mol. Cryst. Liq. Cryst. 2000. V. 351. P. 17-25.
7. Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет // М.: Мир, 1981. 584 c.
8. Цой В.И. Методика расчета оптических свойств жидкокристаллических индикаторов, работающих на основе двулучепреломления закрученных структур // Тез. докл. 5-ой конф. соц. стран по жидким кристаллам. Одесса, 10-15 октября 1983 г. Т. 1. Ч. 2. С. 84.