УДК: 004.932, 681.723

Цифровая микроскопия от нано до макро с использованием системы анализа изображений SIAMS

Кадушников Р.М., Алиевский В.М., Сомина С.В., Козерчук А.Л., Петров М.С.

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Кадушников Р.М., Алиевский В.М., Сомина С.В., Козерчук А.Л., Петров М.С. Цифровая микроскопия от нано до макро с использованием системы анализа изображений SIAMS // Оптический журнал. 2011. Т. 78. № 1. С. 77–82.

Kadushnikov R.M., Alievskiy V.M., Somina S.V., Kozerchuk A.L., Petrov M.S. Digital microscopy from nano to macro, using the SIAMS image-analysis system [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2011. V. 78. № 1. P. 77–82.

Ссылка на англоязычную версию:

R. M. Kadushnikov, V. M. Alievskiĭ, S. V. Somina, A. L. Kozerchuk, and M. S. Petrov, "Digital microscopy from nano to macro, using the SIAMS image-analysis system," Journal of Optical Technology. 78(1), 61-65 (2011). https://doi.org/10.1364/JOT.78.000061

Аннотация:

Рассмотрены ключевые особенности новых систем анализа изображений, основанных на технологии электронных таблиц для работы с изображениями. Показана возможность перевода систем анализа изображений из разряда систем для визуализации в разряд средств измерений. Приведены примеры работы анализатора изображений SIAMS для анализа изображений микроструктур в широком диапазоне масштабов, полученных различными методами цифровой микроскопии.

Ключевые слова:

системы анализа изображений, цифровая обработка изображений, технология электронных таблиц, цифровая микроскопия

Коды OCIS: 110.0110, 100.2000, 100.2960, 100.3010

Список источников:

1. Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел // Свидетельство об утверждении типа средств измерений RU.C.31.005.A № 36493. № 27438-09.
2. Кадушников Р.М., Алиевский В.М., Каменин И.Г., Гроховский В.И. Автоматизированный анализ изображений с использованием технологии электронных таблиц // Современные информационные технологии и ИТ-образование: Учебно-методич. пособие / Под ред. Сухомлина В.А. М.: МАКС Пресс, 2005. C. 603–606.
3. Кадушников Р.М., Каменин И.Г., Вылегжанин А.Н. Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел SIAMS 700 // Cвидетельство о гос. регистрации программы для ЭВМ № 2008615275. 2008.
4. Сомина С.В., Кадушников Р.М., Гроховский В.И., Каменин И.Г., Алиевский В.М., Михайлович А.П., Антонов И.В. Автоматизированные методы анализа зерен с двойниками в суперсплавах // Тез. докл. XVIII Уральской школы металловедовтермистов. Тольятти, 2006. 222 с.
5. Алиевский В.М., Каменин И.Г., Гайдуков В.В., Кадушников Р.М., Гроховский В.И., Сомина С.В. Методика построения автоматизированных систем анализа структуры высоколегированных сталей // Тез. докл. XVIII Уральской школы металловедов-термистов. Тольятти, 2006. 223 с.
6. Макавецкас А.Р., Петров М.С. Применение пакета анализа изображений “Минерал С7” для расчета структурных параметров минерального сырья // VII Конгресс обогатителей стран СНГ: Материалы конгресса. Москва, 3–5 марта 2009 г. М.: МИСиС, 2009. (Электронный вариант).
7. Петров М.С., Нурканов Е.Ю., Козерчук А.Л., Кадушников Р.М. Решение задач технологической минералогии средствами автоматизированной оптической микроскопии // VII Конгресс обогатителей стран СНГ: Материалы конгресса. Москва, 3–5 марта 2009 г. М.: МИСиС, 2009. (Электронный вариант).
8. Kadushnikov R., Khvatkov V. Automated Methods for Visual Analysis of Carbon Nanotubes. II Joint Workshop on Measurement Issues in Carbon Nanotubes // NIST, Gaithersburg. 2005.
9. Антонов И.В., Алиевский В.М., Кадушников Р.М., Гроховский В.И. Морфологическое исследование наночастиц средствами анализа изображений //
Вестник УГТУ–УПИ. Цифровая микроскопия. Екатеринбург, 2005. № 10 (62). С. 63–68.
10. Алфимов М.В., Кадушников Р.М., Антонов И.В. Структурная иерархия характеристик нанообъектов в задачах анализа и контроля перспективных
материалов // Тез. докл. Международной конф. “Нанотехнологии и информационные технологии – технологии XXI века”. М.: Изд-во МГОУ. 2006. C. 31–32.