УДК: 53.097, 532.016, 535.15, 535.557, 537.9

Ориентация жидких кристаллов на наклонно напыленных слоях SiO2 и CeO2

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Амосова Л.П., Парфенов П.С., Исаев М.В. Ориентация жидких кристаллов на наклонно напыленных слоях SiO2 и CeO2 // Оптический журнал. 2014. Т. 81. № 11. С. 88–95.

Amosova L.P., Parfenov P.S., Isaev M.V. The orientation of liquid crystals on obliquely deposited layers of SiO2 and CeO2 [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2014. V. 81. № 11. P. 88–95.

Ссылка на англоязычную версию:

L. P. Amosova, P. S. Parfenov, and M. V. Isaev, "The orientation of liquid crystals on obliquely deposited layers of SiO₂ and CeO₂," Journal of Optical Technology. 81(11), 686-691 (2014). https://doi.org/10.1364/JOT.81.000686

Аннотация:

Сравнивается текстура поверхности пленок оксидов кремния и церия, полученных лазерным наклонным напылением при одинаковых углах и скоростях напыления. Исследуется влияние склонности оксидов к кристаллизации на структуру и рельеф осаждаемой пленки – длину и угол наклона образующихся столбиков-кристаллитов к подложке, наличие или отсутствие гряд кристаллитов, вытянутых в направлении, перпендикулярном направлению напыления. Рассматриваются основные типы рельефа поверхности, образующиеся при наклонном напылении оксидов, и варианты ориентации жидких кристаллов с помощью этих рельефов. Показано, что главным критерием продольной или поперечной ориентации жидких кристаллов служит соотношение размеров их молекул и характерных неоднородностей рельефа поверхности, поскольку ориентация с малой площадью контакта энергетически невыгодна.

Ключевые слова:

жидкие кристаллы, ориентация, оксиды кремния и церия, наклонное напыление, рельеф поверхности

Благодарность:

Работа выполнена при государственной финансовой поддержке ведущих университетов Российской Федерации (субсидия 074-U01) и внутренних средств Санкт-Петербургского национального исследовательского университета информационных технологий механики и оптики.

Коды OCIS: 230.3720, 160.3710

Список источников:

1. Jiao M., Ge Z., Song Q., Wu S.-T. Alignment layer effects on thin liquid crystal cells // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. P. 061102-1–061102-3.
2. Janning J.L. Thin film surface orientation for liquid crystals // Appl. Phys. Lett. 1972. V. 21. № 4. P. 173–174.
3. Goodman L.A., McGinn J.T., Anderson C.H., Digeronomo F. Topography of obliquely evaporated silicon oxide films and its effects on liquid crystal orientation// IEEE Trans. Electron Devices. 1977. ED-24. P. 795–804.
4. Wilson T., Boyd G.D., Westerwick E.H., Storz F.G. Alignment of liquid crystals on surfaces with film deposited obliquely at low and high rates // Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1983. V. 94. P. 359–366.
5. Амосова Л.П. Влияние условий напыления пленок окислов полупроводников и металлов на ориентацию жидких кристаллов // Оптический журнал. 2013. Т. 80. № 3. С. 68–78.
6. Dubois-V.E., de Gennes P.G. Effect of long range Van der Waals forces on the anchoring of a nematic fluid at an interface // J.Coll. Int. Sci. 1976. V. 57. P. 403–410.
7. Шибаев В.П. Необычные кристаллы или загадочные жидкости // Соросовский образовательный журнал. 1996. № 11. С. 37–46.
8. Paik S.M., Kim S., Schuller I.K., Ramirez R. Surface kinetics and roughness on microstructure formation in thin films // Phys. Rev. B. 1991. V. 43. № 2. P. 1843–1846.
9. Коншина Е.А., Иванова Н.Л., Парфенов П.С, Федоров М.А. Динамика переориентации двухчастотного нематического жидкого кристалла с квазигомеотропной структурой // Оптический журнал. 2010. Т. 77. № 12. С. 45–51.
10. Trait R.N., Smy T., Brett M.J. Modeling and characterization of columnar growth in evaporated films // Thin Solid films. 1993. V. 226. P. 196–201.
11. Амосова Л.П., Васильев В.Н., Иванова Н.Л., Коншина Е.А. Пути повышения быстродействия электроуправляемых оптических устройств на основе нематических жидких кристаллов // Оптический журнал. 2010. Т. 77. № 2. С. 3–14.
12. Коншина Е.А., Федоров М.А., Амосова Л.П. Определение характеристик жидкокристаллических ячеек оптическими методами // Оптический журнал. 2006. Т. 73. № 12. С. 9–13.